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智能型方阻測試儀大顯示屏，直觀度數，穩定性好，可以外接其他控制單元，與其他系統集成使用。適用于覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜；導電（...

導電布方塊電阻測試儀，參照標準GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》.GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.GB/T155...

導電性薄膜方阻測試儀測定方法，按標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率...

ITO導電箔膜四探針方阻測試儀操作步驟， 改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更...

FT-340系列方阻測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝...

方塊電阻儀安裝步驟適用范圍：適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電...