納米粒度儀SZ-100V2，能表征納米顆粒的三個參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量，一臺設備、三種功能，可對每個測量參數(shù)進行高靈敏度、高精度的分析。

納米技術是一門交叉性很強的綜合學科，研究的內(nèi)容涉及現(xiàn)代科技的廣闊領域。納米科學與技術涵蓋納米化學、納米材料學、納米生物學、納米電子學、納米加工學、納米力學等 。這七個相對獨立又相互滲透的學科和納米材料、納米器件、納米尺度的檢測與表征這三個研究領域。納米材料的制備和研究是整個納米科技的基礎。

粒徑測量范圍0.3nm~10µm。

納米粒度儀SZ-100V2采用動態(tài)光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量，該系列可準確測量低至ppm 級低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品。可使用市售的樣品池，也可實現(xiàn)對小體積樣品的測量。

Zeta電位測量范圍–500~+ 500mV。

使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過Zeta電位可預測和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩(wěn)定，這對于產(chǎn)品配方的研究工作具有重大的意義。

分子量測量范圍1×10 3 ~ 2 ×10 7Da。

通過測量不同濃度下的靜態(tài)光散射強度并通過德拜記點法計算樣品的絕對分子量 (Mw) 和第二維里系數(shù) (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的復雜信息處理能力和學習能力，可快速確定納米顆粒的特性！

SZ-100V2 系列具有雙光路設計，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質(zhì)、聚合物等。

使用單臺設備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量。

Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。

Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。