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RESOChron雙年代測(cè)試系統(tǒng) 詳細(xì)摘要： RESOChron雙年代測(cè)試系統(tǒng)激光剝蝕（U-Th）/He熱年代學(xué)可以獲得精確定義的、無缺陷的晶體體積，具有已知的表面積，從而克服了傳統(tǒng)的單顆粒晶體測(cè)量方法的兩...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2020-06-09 參考價(jià)： 面議 在線留言
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詳細(xì)摘要： RESOChron雙年代測(cè)試系統(tǒng)激光剝蝕（U-Th）/He熱年代學(xué)可以獲得精確定義的、無缺陷的晶體體積，具有已知的表面積，從而克服了傳統(tǒng)的單顆粒晶體測(cè)量方法的兩...
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