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臺式薄膜探針反射儀 參考價：面議
臺式薄膜探針反射儀二十年來，SENTECH已經成功地銷售了用于各種應用的薄膜厚度探針FTPadv。這種臺式反射儀的特點是不管在低溫或高溫下，在工業或研發環境中，...
反射膜厚儀 參考價：面議
反射膜厚儀我們的反射儀的特點是通過樣品的高度和傾斜調整進行準確的單光束反射率測量，光學布局的高光導允許對n和k進行重復測量，對粗糙表面進行測量以及對非常薄的薄膜...
橢偏反射儀 參考價：面議
橢偏反射儀性能優異的多角度手動角度計和角度精度*的激光橢偏儀允許測量單層薄膜和層疊膜的折射率、消光系數和膜厚。
激光橢偏儀 參考價：面議
激光橢偏儀SE 400adv可用于從可選擇的、應用特定的入射角度表征單層薄膜和基片。自動準直透鏡確保在大多數平坦反射表面的吸收或透明襯底上進行準確測量。多角度測...
光譜橢偏儀 參考價：面議
光譜橢偏儀我們的自動掃描的選項具有預定義或用戶定義的模式、廣泛的統計以及數據的圖形顯示，如2D顏色、灰度、輪廓、+/-偏離平均值和3D繪圖。
光譜橢偏儀 參考價：面議
光譜橢偏儀SENDURO® 所有的全自動光譜橢偏免除了用戶根據高度和傾斜度手動地對準樣品的麻煩，這對于高精度和可重復的光譜橢偏是必要的。該的自動對準傳...
光譜橢偏儀 參考價：面議
光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度，折射率，消光系數以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內是不透明的，現在也可以進行測量...
光譜橢偏儀 參考價：面議
光譜橢偏儀SENpro具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數據進行組合分析等特點。光譜范圍為370到1050 nm。SENpro的光譜范圍與精密的...
光譜橢偏儀 參考價：面議
光譜橢偏儀為了獲得測量結果，在數據采集過程中沒有光學器件運動。步進掃描分析器(SSA)原理是SENresearch 4.0光譜橢偏儀的一個特性。通過創新的雙補償...
集成等離子刻蝕和沉積的多腔系統 參考價：面議
集成等離子刻蝕和沉積的多腔系統三到六個端口傳送腔室可用于集成ICP等離子刻蝕機、RIE刻蝕機、原子層沉積系統、PECVD和ICPECVD沉積設備，以滿足研發的要...
ALD實時監測儀RTM 參考價：面議
ALD實時監測儀RTM使用單一ALD循環可快速和簡易地開發和優化ALD工藝。ALD實時監測儀顯示了高達40ms分辨率的吸附和解吸過程。顯著節省了研發時間，襯底，...
原子層沉積設備 參考價：面議
原子層沉積設備：真遠程等離子體源能夠在低溫100°C下高均勻度和高保形性地覆蓋敏感襯底和膜層，在樣品表面提供高通量的反應性氣體，而不受紫外線輻射或離子...
PECVD等離子沉積設備 參考價：面議
PECVD等離子沉積設備Depolab 200是SENTECH基本的等離子體增強化學氣相沉積(PECVD)設備，它結合了用于均勻薄膜沉積的平行板電極設計和直接載...
帶預真空室的化學氣相沉積設備 參考價：面議
帶預真空室的化學氣相沉積設備PECVD沉積設備SI 500 PPD便于在從室溫到350℃的溫度范圍內進行SiO2、SiNx、SiOxNy和a-Si的標準的化學氣...
等離子沉積設備 參考價：面議
等離子沉積設備低刻蝕速率，高擊穿電壓，低應力、不損傷襯底以及在低于100°C的沉積溫度下的低界面態密度，使得所沉積的薄膜具有優異的性能。
RIE等離子刻蝕機 參考價：面議
RIE等離子刻蝕機我們的等離子蝕刻設備包括用功能強大的用戶友好軟件與模擬圖形用戶界面，參數窗口，工藝窗口，數據記錄和用戶管理。
RIE等離子刻蝕機 參考價：面議
RIE等離子刻蝕機該等離子刻蝕機配備了用戶友好的強大軟件，具有模擬圖形用戶界面，參數窗口，工藝編輯窗口，數據記錄和用戶管理。
ICP-RIE等離子刻蝕機 參考價：面議
ICP-RIE等離子刻蝕機三螺旋平行板天線(PTSA)等離子源是SENTECH等離子體工藝設備的屬性。PTSA源能生成具有高離子密度和低離子能量的均勻等離子體。...
接觸式粗糙度輪廓儀 參考價：面議
接觸式粗糙度輪廓儀DANTSIN-OPTACOM致力于各行業領域的實驗室或工作現場精密輪廓粗糙度測量需求，為您提供各種類型的輪廓形貌掃描測量儀或精密輪廓粗糙度綜...
GOM三維掃描儀 參考價：面議
GOM三維掃描儀我們長期專注于半導體材料研究與分析設備的經銷和代理，為高校、企業科研工作者提供專業的分析解決方案。以專業技能為導向，用科技來解決用戶在科研中遇到...
非接觸粗糙度輪廓儀 參考價：面議
非接觸粗糙度輪廓儀白光干涉微觀形貌及粗糙度儀設計用于高精度微觀形貌分析及高精度粗糙度測量的應用。
X射線探傷機 參考價：面議
X射線探傷機公司制造X射線工業設備用于控制產品質量，如應用于汽車、航空和食品等部門。此外，公司制造的X射線設備也應用于醫療和安全部門。每個產品在國內設計制造，從...
X射線探傷機 參考價：面議
X射線探傷機X 射線工業設備用于控制產品質量，如應用于汽車、航空航天、管件、研究所和食品等不同行業。此外，制造的 X 射線設備也應用于醫療和安檢部門。每個產品在...
掃描電子顯微鏡SEM 參考價：面議
掃描電子顯微鏡SEM具有出色的探測效率，能夠輕松地實現亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析...
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