主要優勢和特點

下照式高性能WDXRF可實現對液體、合金和電鍍金屬等樣品的無損分析。ZSX Primus IVi具有桌越的性能和分析最復雜樣品的靈活性。WDXRF光譜儀具有一個30微米的鈹窗，這是業內最薄的鈹窗，具有桌越的輕元素檢測限。

• 輔助測量和分析支持:ZSX Guidance：自動分析設置具有增強的第三代SQX分析軟件

• ZSX制導軟件：內置的XRF技術可以處理復雜的設置。可用的應用程序包支持交鑰匙操作。

• 直觀的軟件可編程，使用樣品托盤進行日常分析： 每個托盤的樣品ID設置(便于簡單的復制和粘貼，以實現高效的測量設置)。

• 提高液體樣品分析的準確性 修正由液體樣品杯的幾何形狀引起的幾何效應。

• 高速、高精度測量：新驅動順序的效率降低了儀器開銷時間

• 特的功能：下照式光學系統實現了方便的功能，包括新的樣品膠片校正。