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2012-6-11 閱讀(1092)
黃文浩教授近二十年來一直從事納米技術與精密儀器領域的研制工作。在2006年，他向標準化組織ISO/TC201（表面化學分析技術委員會）提出了“掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法標準”的提案，目的是要將SPM工作時納米/秒的漂移大小和方向測量出來，以規范這類儀器的使用方法。2007年該提案正式立項，黃文浩教授被為該項目工作組的召集人。經過四年多的努力，SPM漂移測量方法標準的zui終草案于2011年經全體成員國投票后順利通過，并于2012年正式發布。
