爆破粒子檢測 微分干涉顯微鏡

MX4R金相顯微鏡采用靈活的系統組合、的成像性能、穩定的系統結構，MX4R系列專業應用于工業檢測及金相分析領域，各操作機構根據人機工程學設計，大限度減輕使用疲勞。模塊化的部件設計，可對系統功能進行自由組合。集成了明場、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多種觀察功能，可根據實際應用，進行功能選擇。全新采用半復消技術，集明場、斜照明、偏光等多種觀察方式，任何觀察模式下都能呈現清晰銳利的顯微圖像，可根據實際應用，進行功能選擇，是工業檢測的有效工具。

爆破粒子檢測 微分干涉顯微鏡

一、產品展示

二、性能特點

1）MX4R系列為新型FPD檢查顯微鏡，專為LCD行業 / TFT玻璃 / COG導電粒子壓痕、粒子爆破檢查

2）MX4R系列機型采用4寸、6寸平臺設計，可適用于相應尺寸的晶圓或小尺寸樣品的金相檢查   

3）MX4R系列，其微分干涉效果可與進口品牌相媲美 

4）MX4R系列機型采用全新設計的長工作距物鏡、半復消色差技術，采用長壽命LED光源

5）多種高度功能化的附件，能滿足各種檢驗需要，可用于明場、簡易偏光、微分干涉觀察

■ 采用無限遠色差校正光學系統
■ 長工作距、明暗場兩用平場消色差物鏡，成像清晰、像面平坦
■ 配備反射式柯拉照明系統，為不同倍率的物鏡提供均勻充足的照明
■ 正像三通觀察筒，30°傾斜，*的提高了觀察的舒適性與操作的適應性
■ 配備了4寸帶離合器的機械平臺230X215mm，行程105mmX105mm，可快速移動
■ 良好的人機工程學設計，高剛性鏡筒，“Y”型底座，調焦機構采用前置式操作控制
■ 光源采用寬電壓數字調光技術，具有光強調定與復位功能
■ 可選配攝影攝像裝置、簡易偏光裝置、干涉濾光片、測微尺等附件，拓展應用領域









★ 可選配6英寸三層機械移動平臺，平臺面積445×240mm，行程158×158mm；玻璃載物臺板，透反兩用平臺；
★ 可選配標準微分干涉（DIC）裝置、OLYMPUS微分干涉（DIC）裝置

三、售后保障
    設備安裝調試的同時，我公司的售后服務工程師負責對用戶進行現場技術培訓，直到用戶能熟練操作為止。客戶在使用儀器過程中，可隨時向售后服務人員咨詢有關技術問題，根據情況由我公司安排現場培訓或遠程指導。

自驗收之日起，提供一年的全免費保修，保修期內所有維護費用及零配件費用全免（人為因素造成的儀器故障收取零配件成本價）； 保修期之后，設備終身負責維修，根據實際維修費用適當收費。接到客戶維修需求后，我們將在24小時內做出響應。

正如眾尋人的口號所說的，“眾里尋他，無微不至”，眾尋人一直在努力著，成為你在茫茫顯微世界中尋找到的最合適的那個“他”。我們堅信客戶的滿意，才是我們成功的動力。致力成為中國專業的顯微鏡供應商，是眾尋光學不斷追求的目標，眾尋人期待著與大家一起努力，振興民族光學。