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新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E
——TEM、STEM、SEM、EDS和ED五種模式
LVEM 25E是Delong公司推出的新一代低電壓透射電子顯微鏡，配備了五種成像和分析模式，把實驗室材料表征研究推向一個新高度。超快的樣品切換和增強的自動化功能使LVEM 25E成為常規成像應用中十分實用且易用的工具。LVEM 25E能從標準制備的樣品中獲得對比度好、細節豐富的圖像，并能在減少染色的情況下獲得同等細節水平的圖像。
LVEM 25E不僅可以測量內部和外部結構，還可以分析樣品的化學成分，所有這些功能均在一臺設備上完成。先進的軟件設計，可通過自動設置鏡筒對中和光闌位置來協助用戶分析樣品。
五種成像模式
☆ 配備TEM、STEM、SEM、EDS和ED模式
☆ 通過直觀的軟件輕松切換成像模式
☆ TEM和STEM模式下的明場和暗場測量
☆ SEM模式（BSE）用于表面測量
☆ 能量色散光譜（EDS）用于元素分析
☆ 電子衍射（ED）用于了解晶體結構
*集成和緊湊的設計
☆ 設計緊湊、節省空間
☆ 幾乎可以在任何實驗室環境中進行單插頭安裝
☆ 沒有特殊的設施要求（不需要冷卻、電源或防震隔離）
對標準樣品的高對比度和分辨率
☆ 對生物和輕型材料樣品具有超高的對比度
☆ 無需染色
☆ 電子加速電壓：10, 15, 25 kV
☆ 圖像分辨率高達 1.0 nm
☆ 專為傳統制備的樣品設計
☆ 超快的樣品切換
測試數據
LVEM 25E配備了TEM、STEM、SEM、EDS和ED模式，為用戶提供了獨·特的選擇。用戶可以從一個樣品中獲得多種數據結果，通過直觀的LVEM軟件即可在各種成像模式之間輕松切換。
