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| 應用領域 | 環保,化工,建材/家具,汽車及零部件,綜合 |
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X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀
我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規定的有害物質：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷、耐火材料等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質采礦（各種礦石品位檢測設備）、塑料（無鹵測試等）、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、環境保護、香精香料、紡織品、醫藥、商品檢驗、質量檢驗、醫療器械重金屬含量測試、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測等。下面介紹電鍍膜厚檢測儀器：
鍍層檢測：
2.1、常見金屬鍍層有：
鍍層 基體 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
2.2、單層厚度范圍：
金鍍層0－8um,
鉻鍍層0-15um,
其余一般為0-30um以內，
可最小測量達0.001um。
2.3、多層厚度范圍
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
2.4、鍍層層數為1-6層
X射線膜厚測試儀產品優勢：
1. 鍍層檢測，多鍍層檢測可達5層，精度及穩定性可控制在+/-5%內。
2. 激光定位和自動多點測量功能。
可檢測固體、粉末狀態材料。
運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環境相對要求低。
可進行未知標樣掃描、無標樣定性，半定量分析。
操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩定性，快速出檢測結果。
可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
軟件*升級。
無損檢測，一次性購買標樣可長期使用。
使用安心無憂，售后服務響應時間24H以內，提供*保姆式服務。
可以遠程操作，解決客戶使用中的后顧之憂。
可進行RoHS檢測（選配功能），應對新版中華人民共和國RoHS檢測要求，歐盟及北美RoHS檢測等要求標準，精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對成分進行分析。
（二）X射線膜厚測試儀產品特征
高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）
計算機 / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數字轉換器）
Multi Ray. 運用基本參數（FP）軟件，通過簡單的三步進行無標樣標定，使用基礎參數計算方法，對樣品進行精確的鍍層厚度分析，可以增加RoHS檢測功能。
MTFFP (多層薄膜基本參數法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄鍍層厚度測量
相對（比）模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應用 [如：Cu/ABS等]
雙鍍層應用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應 [如：Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
5. Smart-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊。可同時分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給。
Smart-Ray. 金屬行業精確定量分析軟件。可一次性分析25種元素。小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內部元素作用分析。金屬分析精度可達+ /-0.02%，貴金屬（8-24 Karat) 分析精度可達+ /-0.05kt
Smart-Ray。含全元素、內部元素、矩陣校正模塊
Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統
完整的統計函數均值、 標準差、 低/高讀數，趨勢線，Cp 和 Cpk 因素等
自動移動平臺，用戶使用預先設定好的程序進行自動樣品測量。大測量點數量 = 每9999 每個階段文件。每個階段的文件有多 25 個不同應用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。
（三）X射線膜厚測試儀產品配置及技術指標說明
u 測量原理：能量色散X射線分析 | u 樣品類型：固體/粉末 |
u X射線光管：50KV，1mA | u過濾器：多重濾光片自動轉換 |
u檢測系統：SDD探測器（或Si-Pin） | u能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV） |
u檢測元素范圍：Al (13) ~ U(92) | u準直器孔徑：0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選) |
u應用程序語言：韓／英／中 | u分析方法：FP/校準曲線，吸收，熒光 |
u儀器尺寸：618*525*490mm | u樣品腔尺寸：340*280*108mm |
X射線管：高穩定性X光光管
微焦點X射線管、Mo (鉬) 靶
鈹窗口， 陽極焦斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。
50kV，1mA。高壓和電流設定為應用程序提供優異性能。
探測器：SDD 探測器（可選Si-Pin）
能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）
X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀
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