OT-AFM聯(lián)用系統(tǒng)將AFM的力測量和成像能力與光鑷的能力進(jìn)行了結(jié)合，可在三維空間內(nèi)施加和測量微小的力。聯(lián)用裝置滿足對機(jī)械穩(wěn)定性、靈活性和模塊化的最高要求。經(jīng)過特殊設(shè)計(jì)的OT-AFM ConnectorStage連接臺(tái)是將NanoWizard或CellHesion系列AFM與NanoTracker光鑷整合在科研級倒置光學(xué)顯微鏡上的關(guān)鍵。

光鑷的3D定位、檢測和操縱能力與AFM的高分辨率成像和表面特性表征能力，開啟了全新的應(yīng)用領(lǐng)域，如細(xì)胞響應(yīng)、細(xì)胞間或細(xì)胞與基質(zhì)間相互作用、免疫反應(yīng)、感染或細(xì)菌/病毒/納米顆粒攝取過程等。

由于有大量可用的手柄、相互作用和探測位點(diǎn)，OT-AFM顯著擴(kuò)展了單分子應(yīng)用的范圍。

1.         當(dāng)利用光阱抑制（高功率激光）或量化旋轉(zhuǎn)（低功率激光）時(shí)，DNA發(fā)夾結(jié)構(gòu)解鏈（AFM）。

2.         修飾DNA分子的掃描。帶有DNA結(jié)合蛋白質(zhì)（綠色）的分子橫跨在兩個(gè)光阱之間。功能化的AFM探針（藍(lán)色）沿著分子掃描，每當(dāng)DNA連接的蛋白與探針之間發(fā)生相互作用時(shí)，都可被AFM和光鑷信號探測到。

3.         監(jiān)測DNA酶（例如聚合酶、解旋酶）動(dòng)態(tài)。將鏈的一端連接到一個(gè)被光阱捕獲的粒子上，可以跟蹤步進(jìn)運(yùn)動(dòng)。閉環(huán)的力加持允許在單鏈上保持恒定的力。

細(xì)胞響應(yīng)、細(xì)胞間或細(xì)胞與細(xì)胞基質(zhì)相互作用、免疫反應(yīng)、感染或細(xì)菌/病毒/納米顆粒攝取過程這些應(yīng)用僅是JPK*OT-AFM平臺(tái)能做的一少部分。JPK成熟的AFM和光鑷核心技術(shù)，結(jié)合熒光顯微鏡，為活細(xì)胞應(yīng)用設(shè)置極基準(zhǔn)。

[1] + [2]：用功能化的小球激活細(xì)胞，同時(shí)進(jìn)行AFM測量。微粒表面的信號分子在定義的位置和時(shí)間點(diǎn)與細(xì)胞接觸。

[5] + [6]：由被光鑷捕獲的粒子對機(jī)械敏感的細(xì)胞施加周期性的力刺激。細(xì)胞骨架內(nèi)部重組改變了細(xì)胞的機(jī)械性能。這些性能很容易被AFM方法，比如力成像，或JPK定量成像高階版（QI-Advanced）進(jìn)行探測。

[3] + [4]：AFM還可用于監(jiān)測細(xì)胞結(jié)構(gòu)的變化，例如，通過在整個(gè)過程中監(jiān)測力學(xué)性能或通過分子識(shí)別力譜來研究膜蛋白的分布和力學(xué)行為。

使用功能化粒子或改性后的微生物來觸發(fā)細(xì)胞反應(yīng)是一種常見的方法。利用基于AFM的方法可以研究細(xì)胞結(jié)構(gòu)、動(dòng)力學(xué)和機(jī)械特性的變化。然而，輸送物質(zhì)到細(xì)胞上感興趣的特定區(qū)域非常困難。光鑷為操作樣品和在精確的時(shí)間、位置觸發(fā)細(xì)胞響應(yīng)提供了美的工具。這顯著提高了相關(guān)研究的通量、靈活性和重復(fù)性。在本應(yīng)用中，利用OT-AFM量化了樹突狀細(xì)胞（DCs）和調(diào)節(jié)性T細(xì)胞（Treg）之間的信號對常規(guī)T細(xì)胞（Tconv）與相同樹突狀細(xì)胞之間粘附力的影響。

[1]圖為DC和Tconv的粘附力實(shí)驗(yàn)。Tconv附著在一個(gè)的懸臂上，然后接近固定在表面的DC。懸臂拉起，粘附力被測量。通過光鑷將一個(gè)Treg附著在DC上然后移開，已測試其對結(jié)合力的影響。[2]+[3]圖中，當(dāng)使用附著在懸臂梁上的Tconv進(jìn)行粘附力測量時(shí)，通過光阱（紅色十字）移動(dòng)Treg。[4]圖為三種方式下測量的分離工作，Treg附著減少了DC-Tconv之間的相互作用。在移除Treg后，粘附水平幾乎恢復(fù)。樣品由來自卡爾加里大學(xué)/清華大學(xué)（北京）的Yan Shi提供，來自卡爾加里大學(xué)/清華大學(xué)。該研究最初由Yan Shi等人設(shè)計(jì)（已發(fā)表）。

• 從單分子尺度到活細(xì)胞尺度的成像、定位和操控

• 可測量二維或三維空間內(nèi)500 fN到10 nN的力

• 高度靈活和模塊化設(shè)計(jì)，具備廣泛的操作模式和配件

• 可與TIRF或Confocal等光學(xué)顯微技術(shù)全面集成

• NanoTracker和NanoWizard/CellHesion 200系列都可以組合成完整的OT-AFM平臺(tái)

• ConnectorStageTM連接臺(tái)可將AFM與光鑷耦合到大多數(shù)的倒置顯微鏡上，包括Zeiss、Nikon、Olympus和Leica的主要型號。

• 光學(xué)系統(tǒng)/附件、電化學(xué)解決方案、導(dǎo)體樣品表征、環(huán)境控制選項(xiàng)、軟件模塊、溫度控制、隔音和減振解決方案等。Bruker為您提供最匹配的附件，用于控制樣品條件并獲得成功的實(shí)驗(yàn)。

• 兩套控制器獨(dú)立驅(qū)動(dòng)兩套系統(tǒng)
  

• NanoWizard AFM 控制器和軟件

• NanoTracker OT 控制器和軟件