力感應光鑷和光學捕集平臺 NanoTracker 2
- 公司名稱 上海富瞻環保科技有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2025/7/4 9:41:30
- 訪問次數 57
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產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 環保,化工,生物產業,石油,制藥/生物制藥 |
力感應光鑷和光學捕集平臺 NanoTracker 2
簡介
NanoTracker 2是一款基于研究級倒置光學顯微鏡的光鑷平臺,專為敏感操縱、力測量及追蹤實驗設計。該系統允許用戶捕捉并追蹤尺寸從幾微米到30納米的顆粒,提供納米級精度與飛牛級別的力分辨率,實現對樣品的精確控制與實時觀測。
NanoTracker 2是一個基于研究級倒置光學顯微鏡的光鑷平臺,用于敏感操縱、力和追蹤實驗。通過NanoTracker 2,用戶可以捕獲和追蹤從幾微米到30納米的顆粒,能夠以納米級的精度和飛牛的分辨率實時控制、操縱和觀察樣品。
捕獲和追蹤從幾微米到30納米的顆粒: 珠子、油泡、細菌、單分子和小細胞。用于活細胞研究和材料科學。
最小的力
精準的力測量
以MHz的采樣率進行亞pN力的定量測量和位置追蹤。超穩定的1064納米誘捕激光。
靈活性
NanoTracker 2-為定量力學測試而生
操作模式
· 三維粒子跟蹤
· 點式和捕獲式,便于捕獲定位
· 基于功率譜的在線校準
· 優良的力譜分析,包括使用新的JPK RampDesigner的力鉗和力斜坡。
· 主動和被動力譜成圖
· 顯微流變學模式
· 光學分選
· 陷波器震蕩
· 三維陷波器陣列的復用
· 線形捕集器和圓形捕集器
· 微流變控制
· 納米組裝
· 光學Z型堆疊
優良的光學顯微鏡模式
明視場透射照明(標準)
透射式差分干涉對比(DIC)(標準)
外延式熒光顯微鏡(標準)
拉曼光譜學
TIRF顯微鏡
共聚焦顯微鏡
FRET顯微鏡及更多