| 分析含量范圍 | 0.010%～99.999% | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 能量分辨率 | 145±5eV | 行業專用類型 | 有色金屬 |
| 儀器種類 | 臺式/落地式 | 應用領域 | 鋼鐵/金屬 |
| 元素分析范圍 | 鉀K(19)～鈾U(92) | 重復性 | 自定義 |
| 探測器 | 美國AMPTEK定制Si-PIN | 內置工控電腦 | Intel i3十核電腦 |
| 高壓電源 | 50KV/1mA數字高壓電源 | 準直器 | Φ2.5mm |
XRF-K5貴金屬檢測儀是西凡儀器針對貴金屬成分檢測的一款X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于黃金回收、珠寶首飾工廠、展廳和銀行等行業和單位。該產品自帶IPS液晶屏及電容觸摸屏及采用美國AMPTEK定制Si-PIN探測器，內置i3十核CPU工控電腦，采用45度角光路以及全新的Smart FP算法。檢測速度快，測試穩定性好、準確性高，性價比高。
產品特點
元素檢測范圍：鉀K(19)～鈾U(92)
可支持最多30個元素同時計算
分析范圍：0.010%～99.999%
檢測精度：±0.03%(9999金)
檢測樣品：貴金屬合金
錸鎢檢測報警
支持多點連續測試，測試效率高
軟件界面簡潔明了，支持多種自定義報告
核心部件
探測器：美國AMPTEK定制Si-PIN
探測器面積：6mm2
分辨率：145±5eV
內置工控電腦：Intel i3十核電腦
高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源
X射線管：50KV/1mA
窗口材料：鋁
靶材：鎢
焦點：Φ0.5mm
準直器：Φ2.5mm
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