Niton 分析儀光譜儀的核心技術是能量色散 X 射線熒光(EDXRF)技術。這一技術利用 X 射線與物質相互作用時產生的熒光現象,實現對元素的精確分析。當儀器發射的初級 X 射線束照射到樣品表面時,樣品中的原子吸收 X 射線能量,使其內層電子被激發躍遷到高能級,形成不穩定的激發態。隨后,外層電子迅速填補內層電子留下的空位,在這個過程中釋放出具有特定能量的 X 射線熒光。不同元素的原子結構不同,其產生的 X 射線熒光能量也各不相同,就如同每個人都有指紋一樣。Niton 分析儀光譜儀通過高分辨率硅漂移探測器(SDD)精確測量這些 X 射線熒光的能量和強度,再結合先進的智能算法,能夠在極短的時間內準確識別樣品中所含的元素種類,并精確測定其含量。從周期表中的輕元素鈉(Na)到重元素鈾(U),共 70 余種元素都能被 Niton 分析儀光譜儀敏銳地 “感知” 和分析。這種基于微觀層面的元素分析技術,為各行業提供了深入了解物質組成的有力工具
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