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Niton 分析儀光譜儀的核心技術(shù)是能量色散 X 射線熒光（EDXRF）技術(shù)。這一技術(shù)利用 X 射線與物質(zhì)相互作用時產(chǎn)生的熒光現(xiàn)象，實(shí)現(xiàn)對元素的精確分析。當(dāng)儀器發(fā)射的初級 X 射線束照射到樣品表面時，樣品中的原子吸收 X 射線能量，使其內(nèi)層電子被激發(fā)躍遷到高能級，形成不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài)。隨后，外層電子迅速填補(bǔ)內(nèi)層電子留下的空位，在這個過程中釋放出具有特定能量的 X 射線熒光。不同元素的原子結(jié)構(gòu)不同，其產(chǎn)生的 X 射線熒光能量也各不相同，就如同每個人都有指紋一樣。Niton 分析儀光譜儀通過高分辨率硅漂移探測器（SDD）精確測量這些 X 射線熒光的能量和強(qiáng)度，再結(jié)合先進(jìn)的智能算法，能夠在極短的時間內(nèi)準(zhǔn)確識別樣品中所含的元素種類，并精確測定其含量。從周期表中的輕元素鈉（Na）到重元素鈾（U），共 70 余種元素都能被 Niton 分析儀光譜儀敏銳地 “感知” 和分析。這種基于微觀層面的元素分析技術(shù)，為各行業(yè)提供了深入了解物質(zhì)組成的有力工具
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