徠卡DM750P偏光顯微鏡熒光觀察石油巖石

徠卡DM750P偏光顯微鏡是一款高性能的顯微觀察設備，在石油巖石熒光觀察中具有顯著優(yōu)勢，能夠為地質研究和石油勘探提供重要的技術支持。

1. 徠卡DM750P偏光顯微鏡關鍵特點

熒光觀察功能：徠卡DM750P可配接熒光部件，支持熒光觀察分析，適用于石油巖石中熒光物質的檢測。

高精度光學系統(tǒng)：配備高質量的物鏡和目鏡，提供清晰、銳利的圖像，能夠準確觀察巖石的微觀結構和熒光特征。

偏光觀察能力：具備專業(yè)的偏光觀察功能，可分析巖石的晶體結構、雙折射特性等，結合熒光觀察，提供更全面的巖石信息。

靈活的照明系統(tǒng)：支持多種照明方式，包括透射光和反射光，可根據(jù)觀察需求調整光源強度和角度，優(yōu)化熒光激發(fā)效果。

圖像采集與分析：可連接數(shù)碼相機或圖像采集系統(tǒng)，實時記錄觀察結果，便于后續(xù)分析和報告生成。

2. 徠卡DM750P偏光顯微鏡操作要點

樣品制備：將巖石樣品制成薄片（通常厚度為30μm），確保表面平整、無劃痕，以提高熒光觀察的清晰度。

熒光激發(fā)與濾光片選擇：根據(jù)石油中熒光物質（如芳烴、飽和烴等）的特性，選擇合適的激發(fā)波長（如365nm紫外光）和發(fā)射濾光片，以增強熒光信號。

偏光與熒光結合觀察：

單偏光觀察：在單偏光模式下觀察巖石的礦物組成、結構特征。

正交偏光觀察：切換至正交偏光模式，分析礦物的雙折射、干涉色等特性。

熒光觀察：在激發(fā)光照射下，觀察巖石中熒光物質的分布、強度和形態(tài)，結合偏光觀察結果，推斷石油的賦存狀態(tài)和運移路徑。

圖像記錄與分析：使用顯微鏡的圖像采集系統(tǒng)，記錄熒光圖像，并通過圖像分析軟件測量熒光強度、面積等參數(shù)，為地質解釋提供量化數(shù)據(jù)。

3. 徠卡DM750P偏光顯微鏡應用價值

石油勘探：通過熒光觀察，識別巖石中的烴類物質，評估儲層的含油性和油氣潛力。

沉積環(huán)境分析：結合偏光和熒光觀察結果，推斷巖石的形成環(huán)境、沉積過程和成巖作用。

儲層評價：分析巖石的孔隙結構、礦物組成和熒光特征，評估儲層的物性和產(chǎn)能。

4. 徠卡DM750P偏光顯微鏡熒光觀察石油巖石注意事項

光源預熱：使用熒光觀察前，需確保汞燈或LED光源預熱充分，以保證激發(fā)光的穩(wěn)定性。

濾光片校準：定期檢查和校準濾光片，確保激發(fā)和發(fā)射波長的準確性。

樣品保護：避免樣品長時間暴露在強光下，防止熒光淬滅。

操作安全：使用紫外光時，需佩戴防護眼鏡，避免紫外線對眼睛的傷害。