non-standard-2 3D輪廓測量儀 外置式 超長距離減薄厚度測量
| 參考價 | ￥ 1 |
| 訂貨量 | ≥1套 |
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 廣州萬智光學技術有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 non-standard-2
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/12/2 16:40:50
- 訪問次數 90
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| 產地類別 | 國產 | 產品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 應用領域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
在直徑高達12英寸的晶圓的未調節條件下以1nm的精度測量晶圓的平坦度。傳統的晶圓厚度映射技術難以保持準確性，尤其是在遇到涉及溫度變化或振動的不穩定環境時。TMS-2000的創新硬件設計有效減少了這些環境因素的影響。高速測量能力和緊湊的尺寸使其成為測量各種晶圓材料(包括硅(~P++)、sic、藍寶石、玻璃、LiNbO 3和SOI)平坦度的理想選擇。
特征
晶圓厚度測量系統，可測量1納米的平整度
精確測量對溫度變化和振動不敏感
亞納米厚度重復性
完整的晶圓映射，具有可定制的掃描模式
單面照明
晶圓到晶圓比較
適用于重摻雜硅以及功率半導體和多層晶圓
符合SEMI標準的測量
相對于傳統解決方案的成本優勢
采購中心
化工儀器網