Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)

Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)產(chǎn)品介紹：

Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)是博曼的基礎(chǔ)機(jī)型和常規(guī)機(jī)型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)手動(dòng)操作。測量時(shí)將樣品放入樣品倉，通過觀察視頻圖像來對準(zhǔn)屏幕上十字線內(nèi)的位置來完成測量。

Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)優(yōu)勢：

XRF系統(tǒng)

高分辨率的固態(tài)探測器具有良好的元素分辨能力，無需二次濾波器。峰位長時(shí)間保持穩(wěn)定，無需頻繁地進(jìn)行再校準(zhǔn)。與其他同類型設(shè)備相比，X射線管和探測器的閉合耦合幾何布局光子數(shù)有明顯提升。

直觀的用戶界面

Bowman配套軟件將為儀器的性能提供支持。Bowman XR F高精度鍍層測量系統(tǒng)的分析數(shù)據(jù)擁有強(qiáng)大的軟件作為支持，該軟件將擁有直觀的用戶界面，操作簡單友好。測量數(shù)據(jù)可通過批次號進(jìn)行檢索，報(bào)告可一鍵生成。用戶可以無限制地創(chuàng)建新的應(yīng)用程序和報(bào)告格式，所有結(jié)果自動(dòng)保存到電腦數(shù)據(jù)庫，所有用戶級別都可以設(shè)置密碼保護(hù)。

廣泛的鍍層厚度測量范圍

BowmanXRF高精度鍍層測量系統(tǒng)可對13號鋁元素到92號鈾元素進(jìn)行高精度測量分析。

• 單層鍍層：Au，Ag，Ni，Cu，Sn，Zn等

• 合金鍍層：ZnNi合金，SnPb合金等鍍層厚度和成分比例同時(shí)分析

• 雙層鍍層：Au/Ni/Cu，Sn/Ni/Cu，Cr/Ni/Fe等

• 三層鍍層：Au/Pd/Ni/Cu等

• 至多可分析5層鍍層

• 可同時(shí)分析25種元素成分

• 可分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度

• 可分析ROHS有害元素

Bowman XRF 高精度鍍層測量系統(tǒng)服務(wù)支持：

Bowman為用戶提供的XRF技術(shù)支持和服務(wù)。目前，除美國芝加哥總部外，Bowman已在全球四大洲二十余個(gè)國家建立了辦事處或機(jī)構(gòu)。博曼始終致力于通過提供現(xiàn)場技術(shù)支持服務(wù)，從而成就用戶。Bowman在中國上海設(shè)有演示應(yīng)用中心，培訓(xùn)中心及備品配件庫，在深圳，杭州，西安設(shè)有辦事處。有能力為客戶提供貼心的鍍層厚度檢測方案和快速相應(yīng)的售后服務(wù)。

Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)配置：

Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)配置包括一個(gè)固定準(zhǔn)直器，一個(gè)固定焦距的相機(jī)，固態(tài)PIN探測器和質(zhì)量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號一樣，該型號也可以升級為包括多個(gè)準(zhǔn)直器，可變焦距相機(jī)和SDD探測器。

Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)測量原理：

?Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)利用X射線熒光原理測量鍍層和成分。當(dāng)高能X射線照射金屬薄膜表面時(shí)，入射光子擊出薄膜或基底材料原子的內(nèi)層電子形成空穴。外層電子躍遷填補(bǔ)空穴時(shí)釋放特征X射線熒光，其能量與元素的原子序數(shù)一一對應(yīng)，通過熒光的能量我們可以知道樣品中存在哪些元素，通過XRF的強(qiáng)度我們可以分析獲得樣品的厚度和每個(gè)元素的成分。

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Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)行業(yè)應(yīng)用：

Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)產(chǎn)品參數(shù)：