美國Semicansoft薄膜測量系統MProbe 20
- 公司名稱 天津瑞利光電科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2024/8/23 17:17:25
- 訪問次數 168
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光電設備、光學儀器、機電設備及配件、電氣成套設備、工業自動化控制設備、電子設備、智能設備、通訊設備、儀器儀表、實驗室設備、五金交電、電線電纜、環保設備、汽車配件、工藝品、辦公用品的銷售;自營和代理貨物及技術的進出口業務;光電設備安裝、調試及檢修
產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣 |
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Semicansoft薄膜測量系統MProbe 20
產品型號:MProbe 20
產品介紹
MProbe 20是一種用于全球數千個應用的薄膜厚度測量臺式系統。它只需單擊鼠標即可測量薄膜厚度和折射率。可以快速可靠地測量1nm至1mm的厚度,包括多層膜堆疊。不同的MProbe 20模型主要通過光譜儀的波長范圍和分辨率來區分,這反過來決定了可以測量的材料的厚度范圍和類型。該測量技術基于光譜反射——快速、可靠且無損。
性能特點
l 靈活:模塊化薄膜厚度測量系統:為您的應用選擇更好配置,并在需要時輕松升級
l 精度:<0.01nm或0.01%
l 材料:500+擴展材料數據庫
l 軟件:用戶友好且功能豐富的TFCompanion軟件甚至可以處理復雜的應用程序。層數無限制,支持背面反射率、表面粗糙度、暗度等。
l 集成:輕松集成TCP服務器
l 實時、一鍵測量和分析
l 測量歷史:調用/顯示測量結果和統計數據
技術參數
產地:美國
精度:<0.01nm或0.01%(在200nm氧化物上進行100次測量的s.d.)
<1nm或0.2%(依賴于膠片堆棧)
穩定性:<0.02nm或0.2%(20天,每天測量)
測量厚度:1nm至1mm
光斑尺寸:<1mm
樣品尺寸:>=10mm
主機:包括光譜儀、光源、光控制器微處理器
樣品臺:SH200A
探頭:光纖反射
測試樣品:200nm氧化硅或PET薄膜
電纜:USB或LAN
電源適配器:24VDC
電壓:110/220V