太陽膜測試紫外線穿透透過阻隔率UPF50+UV50光譜輻照計用于測量光源的功率密度，即單位面積內(nèi)的功率,單位：W/㎡ (瓦每平方米)。產(chǎn)品采用進口優(yōu)質(zhì)傳感器和精度處理器，快速測量輻照強度。配合相應光源還可以測量材料對光線的透過率、阻隔率，同時可測量環(huán)境溫度。產(chǎn)品操作簡單、測量準確、質(zhì)量可靠！應用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、建筑、環(huán)境、醫(yī)療、科研等領域。

太陽膜測試紫外線穿透透過阻隔率UPF50+UV50

應用領域

太陽光各波段強度測量、光學實驗

材料對光線的透過率、阻隔率測量

工業(yè)、農(nóng)業(yè)、建筑、環(huán)境、醫(yī)療、科研等領域

產(chǎn)品優(yōu)點

1. 測量范圍大、精度高              2. 自動切換量程

3. 可測量大值                    4. 可測量透過率、阻隔率

5. 中英文雙語菜單                  6. 大顯示屏幕

7. 帶溫度測試功能                  8. 可保存100組測試數(shù)據(jù)