比色皿光譜測量支架，檢測配件，上海儀廣

CS4系列支架是透射光譜測量支架的一種，該系列支架為液體透射測量設計，可添加濾光片，不僅用于透射光譜測量，也可以用于熒光檢測。該支架可以與光譜儀、光源及其他配件組合成測量系統，實現快速測量樣品的反射率、透過率、吸收率、熒光、拉曼等光譜。

特點

光程可變 — 支持10mm到50mm光程

信號增強 — 配合CS4-EMR,大幅提升熒光信號

方便集成 — 尺寸更小、更薄

多路輸出 — *多支持三路輸出，便于測試

濾光插槽 — 可以適配不同型號的濾光片

比色皿光譜測量支架，檢測配件，上海儀廣

產品參數

森泉為您的科研事業添磚加瓦：

激光控制：激光電流源、激光器溫控器、激光器控制、伺服設備與系統等等

探測器：光電探測器、單光子計數器、單光子探測器、CCD、光譜分析系統等等

定位與加工：納米定位系統、微納運動系統、多維位移臺、旋轉臺、微型操作器等等

光源：半導體激光器、固體激光器、單頻激光器、單縱模激光器、窄線寬激光器、光通訊波段激光器、CO2激光器、中紅外激光器、染料激光器、飛秒超快激光器等等

光機械件：用于光路系統搭建的 gao 品 zhi 無應力光機械件，如光學調整架、鏡架、支撐桿、固定底座等等

光學平臺：主動隔振平臺、氣浮隔振臺、實驗桌、剛性工作臺、面包板、隔振、隔磁、隔聲綜合解決方案等等

光學y件：各類晶體、光纖、偏轉鏡、反射鏡、tou射鏡、半透半反鏡、濾光片、衰減片、玻片等等

染料：激光染料、熒光染料、光致變色染料、光致發光染料、吸收染料等等