光學輪廓儀NPFLEX 3D
- 公司名稱 上海富瞻環??萍加邢薰?/a>
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2025/7/4 16:58:33
- 訪問次數 276
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產地類別 | 進口 | 產品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
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價格區間 | 面議 | 應用領域 | 電子/電池,電氣 |
光學輪廓儀NPFLEX 3D
核心參數
產品種類:非接觸式輪廓儀/粗糙度儀
工作原理:白光干涉儀
產品介紹
簡介
NPFLEX三維表面測量系統是一款針對大樣品設計的非接觸測試分析系統,提供高效的三維表面信息測量,具備垂直方向亞納米分辨率,能靈活測量大尺寸及特殊角度的樣品。該系統基于白光干涉原理,可快速獲取詳細測量數據,適用于精密制造業,提高產品質量和生產力。它還提供了多種配件選擇,以滿足不同客戶的測量需求。
NPFLEX 三維表面測量系統
針對大樣品設計的非接觸測試分析系統
靈活測量大尺寸、特殊角度的樣品
高效的三維表面信息測量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節
快速獲取測量數據,測試過程迅速高效
NPFLEX 為大尺寸工件精密加工提供準確測量
布魯克的NPFLEXTM 3D表面測量系統為精密制造業帶來的檢測能力,實現更快的測量時間,提高了產品質量和生產力。基于白光干涉的原理,這套非接觸系統提供的技術性能超出了傳統的的接觸式坐標測量儀(CMM)和工業級探針式輪廓儀的測量技術。測量優勢包括獲得高分辨的三維圖像,進行快速豐富的數據采集,幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術和大樣本的儀器設計的經驗,NPFLEXTM是第一個可以靈活地測量大尺寸樣品的光學測量系統,而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。
其靈活性表現在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度樣品
創新性的空間設計使得可測零件(樣品)更大、形狀更多
開放式龍門、客戶定制的夾具和可選的搖擺測量頭可輕松測量想測部位
高效的三維表面信息測量
每次測量均可獲得完整表面信息,并可用于多種分析目的
更容易獲得更多的測量數據來幫助分析
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節
干涉技術實現每一個測量象素點上的亞納米級別垂直分辨率
工業界使用多年業已驗證的干涉技術提供具有統計意義的數據,為日漸苛刻的加工工藝提供保障
測量數據的快速獲取保證了測試的迅速和高效
最少的樣品準備時間和測量準備時間
比接觸法測量(一條線)更大的視場(一個面)獲得表面更多的數據