極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) （顯微OCT掃頻測振）

三維無損成像技術在材料科學和醫學等許多應用領域都非常重要。我們開發了一種成像技術，利用極紫外和軟x射線輻射來獲得納米分辨率的橫截面圖像。

例如，我們能夠無損地研究硅片或生物樣品中的近表面結構。

在下邊的圖片中，你可以看到幾個埋在硅下的金層。它們的位置可以用我們的計量儀測量，精度低于1nm。這些層位于表面下的110 nm和128 nm處。

極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) （顯微OCT掃頻測振）

公司簡介

筱曉(上海)光子技術有限公司成立于2014年，是一家被上海市評為高新技術企業和擁有“上海市專精特新企業稱號”的專業光學服務公司，業務涵蓋設備代理以及項目合作研發，公司位于大虹橋商務板塊，擁有接近2000m2的辦公區域，建有500平優良的AOL(Advanced Optical Labs)光學實驗室，為國內外客戶提供專業技術支持服務。公司主要經營光學元件、激光光學測試設備、以及光學系統集成業務。十年來，依托專業、強大的技術支持，以及良好的商務支持團隊，筱曉的業務范圍逐年增長。目前業務覆蓋國內外各有名高校、*科研機構及相關領域等諸多企事業單位。筱曉擁有一支核心的管理團隊以及專業的研發實驗室，奠定了我們在設備的拓展應用及自主研發領域堅實的基礎。

公司自成立以來，始終遵循行業、誠信發展、探索創新、務實致遠、以質取勝的服務理念，并在產品開發和銷售中貫徹到底。公司自始至終秉承著國際標準的質量安全保障。多年來，公司一直致力于光學設備的設計開發，以及知識產權的保護。我們將不斷完善管理機制和技術水平，為客戶提供更安全環保的產品以及更優質的服務。