產地類別 | 國產 | 應用領域 | 食品/農產品,化工,生物產業,能源,電子/電池 |
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型號 | TTT-02-Kerr Microscope | 測量相機 | 400百萬像素 |
動態范圍 | 不低于33000:1,不小于30幀/秒 | 高精度電動聚焦模塊 | 行程20 mm |
100X物鏡工作距離 | 12 mm | 磁場方向 | 垂直+水平 |
系統光源 | 高功率智能光源模塊 | 量子效率 | 82% |
顯微鏡主體 | 卡爾蔡司 | 超長焦無磁物鏡,倍率 | (NA 0.13,WD 44.5 mm), 20X(NA 0.29,WD 31),100X (NA |
分辨率 | 1 μm | 探針臺 | 探針XYZ位移臺4套,XYZ行程:12.5 mm |
探針臺2 | DC探針組件8套 |
磁光克爾顯微鏡綜合測試設備,顯微磁疇空間分辨率優于0.5微米,磁光克爾角分辨率優于0.1毫度,支持極向克爾、縱向克爾、橫向克爾三種磁光克爾效應測量方式。在追蹤平面內數百萬點的磁疇動態信息的同時,可搭配探針臺實現電學、磁學、光學同步觀測。廣泛應用于磁學和自旋電子學領域中磁光克爾效應,磁滯回線,磁疇翻轉或擴展動態等觀測。
磁光克爾顯微鏡綜合測試設備相較于傳統的單點磁滯回線測量儀,磁光克爾顯微鏡綜合測試設備,可以追蹤平面內數百萬點的實時磁性動態信息。結合該測試平臺提供的直流探針,高頻探針,樣品的測試無比便捷。當下自旋電子學或磁學的研究,已經由磁性驅動的翻轉,發展到了直流電流驅動、脈沖電流驅動、微波脈沖驅動、光驅動等一系列的激勵源作用下的深度研究。
托托科技(蘇州)有限公司提供的磁光克爾顯微鏡綜合測試設備標準系統按照性能優先,穩定性優先的設計思路,可以滿足實驗室研究及工業生中各種相關材料的測試需求。標準設備中提供了磁場激勵、電流激勵等多種選項,是客戶在自旋特性研究中的得力測試平臺。
更多的選項可以根據客戶需求選擇升級。