Contour 高精度三維形貌計量光學輪廓儀

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光學輪廓儀立體顯微鏡納米光學顯微鏡干涉輪廓儀非接觸光學輪廓儀

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冠乾科技Grant Technology 有限公司創立于中國上海。公司為用戶提供先進可靠的設備及、

儀器技術，為客戶把握工藝過程，得到優質的結果而服務。
Grant是“授予”的意思，希望公司能夠成為一個平臺，以用戶能夠得到上更新更快的技術資訊，技術方案為企業目標。

冠乾科技追求品質產品、專業的應用和完善的售后服務，我們是您可以信賴的合作伙伴。

工藝設備：真空鍍膜機；離子束刻蝕機，ICP刻蝕機，等

產品線豐富，元素分析:原子吸收,氣相色譜，液相色譜，氣質聯用，紫外分光光度計等；熱分析：材料表面分析：原子力顯微鏡，光學輪廓儀，摩擦磨損等；通用分析：掃描電鏡，

實驗室儀器
原子吸收光譜儀
近紅外光譜儀
紫外分光光度計
電化學工作站
紅外光譜儀
鍍層測厚儀
數字顯微鏡
影像測量儀
Wafer 粗糙度檢測
3D 輪廓儀
超景深顯微鏡
TTV 測試
掃描探針顯微鏡
臺式掃描電鏡

其他儀器：
四探針測試
離子減薄機

展開

原子力顯微鏡，摩擦磨損試驗機，超景深顯微鏡，鍍膜機

產地類別	進口	產品種類	非接觸式輪廓儀/粗糙度儀
價格區間	100萬-200萬	應用領域	醫療衛生,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,汽車及零部件

Contour 高精度三維形貌計量光學輪廓儀融合了高級表征、可定制選項和易用性，可以提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。

它的操作和分析軟件系統提供了更易于使用的界面和簡潔的功能，可以訪問多種預編程濾鏡和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析，可用于表面粗糙度，RDLxian進封裝工藝厚度等測試。

滿足計量要求，具有很好的Z軸分辨率和準確性，并在更小的占地面積內提供了布魯克白光干涉儀（WLl）落地式型號所具備的業界認可的優點。它對反射率從0.05%到100 %的各種表面都非常易于測量。

Contour 高精度三維形貌計量光學輪廓儀擁有三款型號，分別是GT100、GT200、GT500，它們的技術參數如下：

型號	GT100	GT200	GT500
圖片
樣品臺區別	手動樣品臺	自動樣品臺	高級自動化樣品臺
技術參數	掃描量程：≤10mm 垂直分辨率：＜0.01nm 水平分辨率：0.38μm min（Sparrow criterion），0.13μm（with AcuityXR）臺階高度準確性：＜0.75% 臺階高度重復性：＜0.1% 1 sigma repeatability 掃描速度：37μm/sec(with standard camera) 樣品傾角：≤40°（shiny surfaces），≤87°（rough surfaces）樣品高度：≤100mm（4 in.）