雙軸測量系統200MP

雙軸運動測量

的雙軸測量系統模型200MP措施光學-并且因此而沒有接觸-圓形目標在兩個正交軸（X，Y）的線性位移。測量范圍和距離取決于所使用的鏡頭。兩個軸的測量同時進行，每秒掃描1000次。ASCII格式的校準測量值存儲在PC中。為了接收x和ya的模擬測量值，可以安裝兩個通道的14位接口。

進一步的特征 

• 分辨率：x和y為1：16000
• 同時測量
• 掃描速度：1000 / s
• 內置查看器允許在很短的時間內進行設置
• 堅固的系統；使用固態技術
• 操作員無需執行任何校準
• 連接到PC的并行端口LPT1；在PC中以ASCII格式存儲測量值（x，y）
• 借助可選的自動準直儀適配器和特殊鏡頭，它可以測量前視鏡在兩個軸上的角運動。

雙軸測量系統200MP

引伸計概述

引伸計是一種在材料測試（例如拉伸測試）過程中測量材料樣品應變的儀器。原則上，引伸計有兩種類型：接觸式和非接觸式。接觸測量可以通過夾式引伸計進行；這種儀器具有至少兩個機械地連接到樣本的邊緣。拉伸樣本會導致邊緣之間的距離變長，這與樣本長度的變化相對應。

對于非接觸式測量，使用模擬或數字光學引伸計。為了測量材料樣品上的應變，樣品通常帶有黑白標記。引伸計內的傳感器檢測標記的運動，從而檢測拉伸試驗期間長度的變化。有引伸計，即使材料樣品溫度非常高（高達3000°C），它們也能夠測量非常快的應變（> 100 m / s）。

在拉伸試驗中，非接觸式測量裝置是有利的。通常可以將它們設置在距樣品一定距離的位置，以防止樣品的飛散碎片損壞測量儀器。因此，光學引伸計也適用于破壞性材料測試期間的測量。

H.-D. Rudolph GmbH提供各種類型的光學引伸計：

• 引伸計200XR可進行高達500 kHz的非常快速的測試
• CMOS線掃描傳感器ZS64A5K每秒可實現1：64000和4673測量的高分辨率
• 線掃描傳感器ZS16A分別是速度更快的版本ZS16AHS，可實現1：16000的高分辨率和高穩定性
• 引伸計ZS32和ZS32HS分別具有1：32000的分辨率