日立高新熱場式場發(fā)射掃描電鏡SU5000--搭載全新用戶界面，向所有用戶提供高畫質(zhì)圖像--

日立*公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射
掃描電子顯微鏡"SU5000"，搭載了全新的用戶界面和"EM Wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。

掃描電子顯微鏡在納米技術領域、材料領域、醫(yī)學生物等領域均被廣泛使用。但隨著近年來儀器性能的大幅提升，以及用戶群體的不斷擴大，使得用戶對不需要任何經(jīng)驗和技術就能得到好照片的需求迅速擴增。而且，由于觀察對象的樣品的不斷多樣化，對樣品的大小和性質(zhì)的無制約觀察變得尤為重要。

這次新開發(fā)的"日立高新熱場式場發(fā)射掃描電鏡SU5000"對用戶沒有任何操作技巧上的要求，通過”EM Wizard“只要選擇好觀察目的就可以得到好照片。"EM Wizard"以人為本的設計理念使電鏡的操作性大幅上升，對于用戶來說，再也不用去討論該用什么條件進行觀察，只要按照觀察目的選擇”表面細節(jié)觀察“或是”成分分布“等就可以自動將適合的觀察條件設置好。除此之外，使用經(jīng)驗豐富的操作人員也可以像往常一樣自由的選擇觀察條件，按照自己的操作習慣進行設置。”EM Wizard“對于初學者或者使用經(jīng)驗尚淺的客戶來說，它*的操作簡易性和各種學習工具可以幫助您迅速成長起來；對使用經(jīng)驗豐富的客戶來說，開放了豐富的可設置選項，會令您操作起來更加得心應手。這正是"EM Wizard"的價值所在。

另外"SU5000"的尋找視野功能"3D MultiFinder"更是duyi無二的。不但可大幅提高做樣速度，更使視野再現(xiàn)性得到大大提高。并且，為了能適應各種分析的需求，大束流可達到200nA。再加上全新設計的背散射電子探頭和低真空二次電子探頭等，都使該款電鏡無論在是觀察樣品還是分析都具備了的功能與強大的擴展性。

日立高新在8月3日至8月7日在美國康涅狄格州舉辦的"Microscopy & Microanalysis"，9月3日至9月5日在日本千葉縣幕張展覽中心舉辦的"JASIS 2014"，9月7日至9月12日在捷克舉行的"18th International Microscopy Congress"上都做了實機展出。

*：肖特基式場發(fā)射電子顯微鏡：高亮度、大束流、穩(wěn)定性匯聚一身肖特基式場發(fā)射電子顯微鏡。分辨率高和可做各種定量定性分析。