臺式PID(Potential Induced Degradation)
- 公司名稱 束蘊儀器(上海)有限公司
- 品牌其他品牌
- 型號
- 所在地上海市
- 廠商性質代理商
- 更新時間2025/6/26 20:19:37
- 訪問次數 2298
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應用領域 | 醫療衛生,環保,食品/農產品,化工 |
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臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。
標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016
可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
易ID和抗PID的太陽能電池 重現性
臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。
標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016
可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
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可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
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標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016
可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
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標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016
可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
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標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016
可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
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可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。
標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016
可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度