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臺式PID(Potential Induced Degradation)

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c-Si太陽能電池

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束蘊儀器(上海)有限公司自成立以來,憑借與德國布魯克(BRUKER)、國際衍射數據中心(ICDD)、德國Freiberg等國際實驗室分析儀器品牌的戰略合作,迅速成為業界儀器供應商。

我們擁有一支積極樂觀,正直誠信的年輕團隊,我們熱忱的信仰科學,相信科學技術能為我們的客戶帶來質量較高的生活,為社會的進步起到積極的促進作用。

束蘊儀器為各類客戶提供完善的實驗室和工業檢測儀器及過程控制設備,專業的應用支持及完善的售后服務,在中國大陸的諸多領域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天、國家機關、檢驗機構及工業企業,產品覆蓋了醫藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個行業。公司的宗旨:為客戶量身打造適合的綜合解決方案,技術支持和現場服務,系統高效的客戶培訓,快速及時的售后服務。

束蘊儀器,讓世界更清晰!

主營儀器設備:

--高分辨X射線顯微CT、多量程X射線納米CT、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀、電子順磁共振波譜儀(ESR/EPR)、臺式核磁共振波譜儀 TD-NMR、光學輪廓儀等 -- 德國布魯克Bruker 授權代理商

--PDF衍射數據庫、JADE軟件--國際衍射數據中心(ICDD)授權代理商

--晶圓片壽命檢測儀、在線晶圓片/晶錠點掃或面掃檢測、晶圓片在線面掃檢測儀、臺式PID潛在誘導退化測試儀、釋光測定儀等--德國Freiberg Instruments授權代理商



單位名稱:束蘊儀器(上海)有限公司

詳細地址:上海市松江區千帆路288弄G60科創云廊3號樓602室









MicroCT,顯微CT,微焦點CT,骨骼成像,顯微CT材料學檢測,微納顯微CT,X射線斷層掃描,TOC,元素檢測

應用領域 醫療衛生,環保,食品/農產品,化工

臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。

標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

    易ID和抗PID的太陽能電池          重現性

臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。

標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。

標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。

標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。

標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。

標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。

標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。

標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

 



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