德國蔡司zeiss三維 X 射線測量技術

利用 ZEISS METROTOM 輕松完成測量任務

基于 ZEISS METROTOM 的工業計算機斷層掃描（CT）

利用蔡司的工業計算機斷層掃描系統，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗。標準的驗收檢測、精密工程和完善的校準程序可確保系統的追蹤性。配備線性導軌及轉臺，滿足客戶對精度的高要求。

測量與檢驗整體部件

ZEISS METROTOM 是一種用于測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業計算機斷層掃描測量系統。而在利用傳統測量機測量時，此類隱藏性的結構信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。

輕松且精準地進行多樣化特征檢測

利用 ZEISS METROTOM 計算機斷層掃描系統可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結果非常精準，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，ZEISS METROTOM 獲取海量測量點時，時間顯著縮短。

直觀簡易的軟件操作

僅需通過短時間的 ZEISS METROTOM OS 軟件培訓課程，操作人員即可對零件進行掃描，透視零件的內部。利用 ZEISS CALYPSO 可評估 CT 數據，再利用 ZEISS PiWeb 即可快速地將兩者融合于同一份測量報告中。

德國蔡司zeiss三維 X 射線測量技術

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