bowman美國膜厚測試儀

俗稱鍍層測厚儀，膜厚測試儀，X-RAY膜厚儀等等.
用途：檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質，減少電鍍成本浪費. 
產品副名稱：應用范圍較廣的標準型鍍層厚度測量儀. 

* 技術指標型號：元素分析范圍從鋁（AL)到鈾（U）。
* 一次可同時分析zui多24個元素或五層以上鍍層。
* 元素分析檢出限可達2ppm，分析含量一般為2ppm到99.9％。鍍層厚度zui薄可達0.005um，一般在20um內（不同材料有所不同）。
* 小孔準直器（zui小直徑0.1mm），測試光斑在0.2mm以內。
* 高精度移動平臺（定位精度小于0.005mm）。
* 任意多個可選擇的分析和識別模型。
* 尺寸：576 x 495x545 mm
* 重量：90 kg
* 標準配置開放式樣品腔。
* 精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
* 雙激光定位裝置。
* 鉛玻璃屏蔽罩。
* Si-Pin探測器。
* 信號檢測電子電路。
* 高低壓電源。
* X光管。
* 高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機。
: 舒翠 
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