NanoIR平臺是由美國Anasys儀器公司所推出的一款基于AFM探針的檢測工具，它可以在納米尺度下揭示試樣的化學組成。這項實驗室解決方案集成了紅外光譜和原子力顯微鏡的核心技術，使獲得的紅外光譜在空間分辨率上大大超越光學衍射極限。
除了可以揭示化學組成，nanoIR系統還可以對試樣的局部形貌，機械性能，熱學性能進行高分辨率表征。該系統潛在的應用范圍橫跨聚合物學，材料科學，生命科學以及對結構和性能關系深入研究的相關領域。
NanoIR
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主要技術參數
多功能檢測
儀器功能
NanoIR軟件
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NanoIR平臺集成了連續可調紅外光源和AFM檢測模塊，能夠綜合形貌分析和光譜測量對試樣進行表征
如上圖所示，試樣固定在硒化鋅棱鏡上。用戶可以通過視頻顯微鏡快速發現其感興趣的特征點。AFM探針針尖能夠對試樣形貌進行高分辨率表征，并檢測試樣的局部紅外吸收。
如上圖所示，旋起AFM測量頭，即可輕松放入試樣。試樣更換方便，無需特殊工具。
主要技術參數
| 頻譜范圍 | 900 cm-1~2000cm-1和2235 cm-1~3600cm-1 |
| 光譜分辨率 | ~4 cm-1 |
| zui大成像尺寸 | 80μm×80μm |
| 光譜采集時間 | ~1分鐘/光譜（或更少） |
參數可能會有所變更
多功能檢測
NanoIR系統可以為您提供一個包含了表面形貌，分子光譜，機械性能和熱學性能在內的全面的掃描成像分析。高分辨率形貌分析由AFM測試得到， 而局部化學表征則由增強光熱誘導共振（PTIR）技術的紅外光譜完成。PTIR技術也支持接觸共振頻率檢測同時對可各種材料的成像分析。
（A）EAA和尼龍多層聚合物的AFM圖像。（B）界面處的線性光譜掃描結果，顯示了CH和NH的吸收峰。（C）化學組成和機械性能的同時表征。綠色曲線顯示了在2900cm-1到2950cm-1之間CH鍵吸收強度，而藍色曲線則顯示了界面處機械剛度的相對變化。（D）納米熱分析模塊測試（nanoTA）結果表明尼龍和EAA存在不同的軟化溫度。
儀器功能
| 檢測功能 | 功用 |
| 光熱誘導共振（PTIR） | 利用納米紅外光譜表征化學組分 |
| 接觸共振 | 同時進行機械性能的掃描成像 |
| AFM | 獲取高分辨率表面形貌 |
| 納米熱分析 | 檢測局部熱轉變溫度 |
PET和尼龍復合材料的多功能檢測結果，包括AFM形貌測試，化學光譜信息，化學掃描成像和納米熱分析等。
NanoIR軟件
美國Anasys儀器公司的nanoIR軟件能夠很容易獲取納米尺度下吸收光譜。首先，選定試樣的一個區域，采集AFM圖像，然后點擊你希望獲取紅外光譜的位置。該軟件能夠自動記錄你所點擊的位置，從而讓空間形貌和光譜信息之間的變得非常容易。同時，光譜也很容易被輸送到第三方光譜分析軟件。
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