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傅里葉紅外光譜儀(FTIR)作為分子結構分析的核心設備，其穩定性直接影響實驗效率與數據可靠性。以下從光源系統、干涉儀、檢測器、光學組件、軟件控制等模塊出發，系統梳理常見故障現象、成因及解決方案，并提供預防性維護建議。
一、光源系統故障
1. 光源強度不足或閃爍
- 現象：光譜基線噪聲增大，吸光度值異常波動，可見光指示燈微弱。
- 成因：
- 鎢燈/陶瓷光源老化(通常壽命約1000小時)；
- 燈絲斷裂或電源接觸不良；
- 反光鏡污染導致光路衰減。
- 解決方案：
- 檢查燈絲完整性，更換老化光源(需匹配型號及色溫)；
- 清潔反光鏡表面，使用擦鏡紙蘸取乙醇單向擦拭；
- 調節光源位置，確保光斑聚焦于入射狹縫。
2. 激光校準失效
- 現象：干涉儀無法自動準直，出現條紋紊亂或無干涉圖。
- 成因：
- 氦氖激光器壽命終止(典型壽命約2000小時)；
- 激光管漏氣或高壓模塊故障；
- 分束器反射鏡偏移導致光路偏離。
- 解決方案：
- 更換同波長(如632.8nm)氦氖激光器，注意光路校準；
- 檢查激光電源輸出電壓，調整至額定值(通常1500-2000V)；
- 手動調節干涉儀反射鏡螺釘，恢復激光定位點。
二、干涉儀系統故障
1. 動態干涉圖異常
- 現象：干涉圖對比度降低、中心burst信號缺失或周期性畸變。
- 成因：
- 動鏡(移動鏡)導軌磨損導致光程差偏移；
- 分束器(如Ge/KBr涂層)污染或損傷；
- 紅外光路準直偏差。
- 解決方案：
- 清潔分束器表面，避免使用纖維材質擦拭工具；
- 重新校準動鏡初始位置，通過軟件“歸位”功能復位；
- 檢查空氣軸承氣壓(通常0.2-0.4MPa)，確保動鏡平滑移動。
2. 動鏡卡滯或振動
- 現象：干涉圖呈現鋸齒狀噪聲，掃描速度不穩定。
- 成因：
- 導軌潤滑不足或異物侵入；
- 電機驅動電壓不足；
- 環境振動干擾(如離心機、空壓機)。
- 解決方案：
- 拆卸導軌清除粉塵，涂抹專用鉬硫潤滑脂；
- 測試電機電流，調整驅動板輸出功率；
- 加裝防振平臺或隔離墊，遠離高頻振動源。
三、檢測器故障
1. DTGS檢測器響應下降
- 現象：信噪比(SNR)低于常規值(如<1000:1)，低頻噪聲顯著。
- 成因：
- 液氮冷卻失效導致檢測器溫度升高；
- 窗口片(如KBr或CaF?)結霧；
- 前置放大器電路老化。
- 解決方案：
- 補充液氮至儲液罐2/3以上，檢查真空密封性；
- 拆卸檢測器倉，用吹風機低溫檔除潮；
- 測試暗電流，若超標則需返廠維修前置放大模塊。
2. MCT檢測器失效
- 現象：光子模式信號缺失，僅顯示熱噪聲。
- 成因：
- 液氮耗盡未及時補充；
- 偏置電壓設置錯誤；
- 光敏元陣列燒毀(如高功率激光誤照)。
- 解決方案：
- 立即停止制冷并重啟系統；
- 調整偏置電壓至推薦范圍(通常1.5-2.5V)；
- 避免強光源直射檢測器，加裝限光孔。
四、光學組件故障
1. 樣品倉污染
- 現象：背景光譜出現寬峰干擾，基線傾斜。
- 成因：
- 樣品殘留揮發物附著(如油脂、溶劑)；
- 濕度過高導致鹽類析出。
- 解決方案：
- 使用無水乙醇或丙酮清洗樣品倉，配合無塵紙擦拭；
- 開啟干燥劑(如硅膠包)或通入干燥氮氣；
- 定期執行空白背景采集，監控污染情況。
2. 分束器損壞
- 現象：特定波數區(如指紋區)信號衰減，干涉圖對稱性破壞。
- 成因：
- Mylar膜分束器劃傷或霉變；
- KBr分束器吸濕潮解。
- 解決方案：
- 更換分束器，注意匹配厚度(如6μm或12μm)；
- 控制環境濕度<50%，加裝除濕裝置。
五、軟件與控制系統故障
1. 數據采集異常
- 現象：光譜扭曲、波數偏移或文件無法保存。
- 成因：
- USB/A/D轉換器驅動沖突；
- 采集參數設置錯誤(如分辨率過低、增益飽和)；
- 操作系統兼容性問題。
- 解決方案：
- 重裝儀器驅動，檢查數據線連接；
- 調整增益值為自動或手動優化(通常64-128倍)；
- 升級固件版本，確保軟件與Windows系統兼容。
2. 動作控制失靈
- 現象：掃描程序無響應，光源/動鏡無法啟動。
- 成因：
- 急停開關觸發未復位；
- PLC控制器通訊中斷；
- 電源模塊過載保護。
- 解決方案：
- 檢查急停按鈕狀態，重置控制器；
- 重啟主機電源，測試I/O端口信號；
- 測量供電電壓，排除短路風險。
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