AS-100膜厚反射率測試
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- 公司名稱 三經科技電子有限公司
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- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2015/12/5 19:43:21
- 訪問次數 572
產品標簽
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AS-100膜厚反射率測試技術參數
波長精度：0.2nm
校正線性度：99.8%
測量誤差：1%以下
單次測量時間：zui小100ms
功耗：200W
電源：210~245V，60Hz
信號接口：USB2.0
操作系統：windows
波長范圍：200-1100 nm
數據傳輸速率：每4ms 一個全掃描入存儲器（USB2.0 接口 ），18ms（USB1.1）
每300ms 一個全掃描入存儲器（串行口）
探測器：3648 像素的線型硅CCD 陣列 8um × 20um
光柵：14 種光柵，波長從紫外到近紅外
積分時間：10um～65min
入射孔徑：寬5, 10, 25, 50, 100 或200um 的狹縫或光纖（無狹縫）
光纖連接：SMA905 接口，與0.22NA 的單股光纖相連
各類濾波片：長波通或帶通濾波片，安裝在光譜儀內
電子控制：8 個數字GPIO 接口 電子快門控制（zui短10um）
焦距：42 mm（輸入）， 68 mm（輸出）
光學分辨率：0.3 nm FWHM（與光柵和狹縫寬度的選擇 有關）
動態范圍：2×108（系統），1300:1（單個掃描信號）
AS-100膜厚反射率測試主要特點：
·全新設計的優良的光學系統,高性能的全息閃耀光柵,確保了儀器的低雜散光.
·雙光束測光系統,配合設計*的電路測控系統.使儀器具有高度的穩定性和
極低的噪聲.
全自動的控制系統,*的設計理念,確保儀器具有高可靠性和高穩定性.
·可拆卸結構的樣品室設計,易于更換不同的附件.以滿足不同的分析需求.
·寬敞型開放式光源室設計,使燈源更換更加方便.
· windows 環境下開發的中英文操作軟件,具有多項技術.提供了豐富的*特色的分析功能.
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