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小粗糙度儀便攜式DUO泰勒霍普森信息2025/05/13

藍(lán)牙技術(shù)DUO粗糙度儀運用藍(lán)牙技術(shù)，實現(xiàn)驅(qū)動裝置與顯示/控制裝置之間快速且可靠的通信。這一設(shè)計方便使用者在操作時靈活調(diào)整儀器位置，不必受線纜連接的束縛，在一些空間受限或需要靈活操作的測量場景中優(yōu)勢明顯。輪廓圖形顯示儀器能夠呈現(xiàn)詳細(xì)的輪廓圖形，清晰展示測量區(qū)域。通過觀察這些圖形，使用者能直觀地分辨出被測表面是否存在缺陷，對于有問題的區(qū)域能快速定位。在產(chǎn)品質(zhì)量檢測環(huán)節(jié)，有助于工作人員及時發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過程中的問題，提高檢測效率與準(zhǔn)確性。分體式設(shè)計該儀器通過滑軌和鎖定裝置，可巧妙地分為顯示/控制裝置和驅(qū)動裝

英國泰勒霍普森輪廓儀基本信息2025/05/13

核心技術(shù)優(yōu)勢測量精度：采用自主研發(fā)的納米級精度傳感器與FEA有限元優(yōu)化機(jī)械結(jié)構(gòu)，例如FormTalysurfPGINOVUS搭載的雙向動態(tài)傳感器，可實現(xiàn)±0.1nm垂直分辨率與0.05μm/m水平直線度，突破傳統(tǒng)輪廓儀單向測量局限，滿足航空航天部件的亞微米級檢測需求。全參數(shù)測量能力：多參數(shù)同步測量技術(shù)，一臺設(shè)備即可完成表面粗糙度（Ra/Rz）、形狀誤差（圓度/圓柱度）、輪廓曲線（2D/3D）、幾何尺寸（直徑/角度）等20+項指標(biāo)檢測。FormTalysurfLASER通過激光干涉與觸針結(jié)合，單次

美國API激光跟蹤儀基本特點信息2025/05/13

速跟蹤測量儀組成：由先進(jìn)緊湊的跟蹤頭、控制器、筆記本電腦和連接電纜組成，配件還包括三腳架、球形反射器、工具箱、測量軟件包。特點：采用技術(shù)研制的絕對測距功能，測量范圍超過120米，精度達(dá)10ppm（2sigma），支持高速網(wǎng)際傳輸（有線和無線），操作比全站儀簡便，功能更強大，價格相對激光跟蹤儀低廉，是空間大尺寸測量的理想工具。API跟蹤儀廣泛應(yīng)用于航空航天、汽車、能源、重型機(jī)械等諸多領(lǐng)域，為大尺寸工件提供高精度坐標(biāo)測量解決方案，可用于三維動態(tài)測量、隱藏點測量、高清晰度表面掃描和用于自動化與機(jī)器控制

尼克斯4500測厚儀適配信息2025/05/09

測量條件適配性最小測量面積：僅需10×10mm的測量區(qū)域，即可實現(xiàn)精準(zhǔn)測量，能夠滿足精細(xì)產(chǎn)品或工件局部涂層的厚度檢測需求，適用于對小型零部件或復(fù)雜結(jié)構(gòu)局部涂層的測量。最小曲率：在曲率適應(yīng)方面，凸半徑最小可達(dá)5mm，凹半徑最小為25mm，可較好地適配具有一定弧度的工件表面涂層測量。其中，“分體型”在凸面測量時，最小曲率半徑進(jìn)一步優(yōu)化至3mm，為特殊曲面測量提供更多可能。最小基材厚度：對于鐵基材，厚度低至0.2mm時仍可進(jìn)行有效測量；非鐵基材的測量下限則為0.05mm，對基材厚度的要求相對較低，能夠

尼克斯涂層測厚儀4500測量信息2025/05/09

尼克斯涂層測厚儀QNix4500是一款在工業(yè)涂層厚度檢測領(lǐng)域表現(xiàn)出色的設(shè)備，其測量功能與性能兼具實用性和可靠性，具體信息如下：測量原理QNix4500融合霍爾傳感器與電渦流技術(shù)實現(xiàn)精準(zhǔn)測量。面對磁性金屬基體，霍爾傳感器可對鋼鐵等材質(zhì)表面的非磁性涂層、鍍層、氧化層等進(jìn)行檢測；針對非磁性金屬基體，電渦流技術(shù)則能勝任鋁、銅、鋅、不銹鋼等材質(zhì)表面絕緣涂鍍層的厚度測量工作，滿足多樣化的測量需求。測量范圍該測厚儀在測量磁性金屬基體（Fe）和非磁性金屬基體（NFe）時，常規(guī)測量范圍均可達(dá)0-3000μm。此外

Fischer DMP20基礎(chǔ)版雙功能測厚儀信息2025/05/09

FischerDMP20基礎(chǔ)版雙功能測厚儀，憑借高效、精準(zhǔn)與便捷的特性，在工業(yè)生產(chǎn)與質(zhì)量檢測流程中占據(jù)重要地位，是把控涂層質(zhì)量的得力工具。測量原理磁感應(yīng)法：遵循DINENISO2178標(biāo)準(zhǔn)，適用于磁性金屬基材（如鐵、鋼等）表面非磁性涂層的測量。當(dāng)探頭靠近被測涂層時，其產(chǎn)生的磁場穿透涂層抵達(dá)基材。因涂層與基材磁導(dǎo)率存在差異，引發(fā)不同程度的磁感應(yīng)變化。儀器通過捕捉并分析這些變化，準(zhǔn)確計算出涂層厚度數(shù)值。在汽車制造領(lǐng)域，常用于檢測車身鋼鐵部件表面的油漆涂層厚度。電渦流法：依據(jù)DINENISO2360標(biāo)

菲希爾涂層測厚儀DMP10測量信息2025/05/09

菲希爾涂層測厚儀DMP10在測量功能與性能方面具備多方面優(yōu)勢，具體信息如下：測量原理磁感應(yīng)法：當(dāng)測量磁性基材上的非磁性涂層時，如鋼鐵表面的油漆、清漆、塑料涂層，以及電鍍鋅、鉻、銅層等，DELTASCOPEDMP10運用磁感應(yīng)原理開展工作，該原理符合DINENISO2178標(biāo)準(zhǔn)要求。振幅敏感渦流法：針對非磁性導(dǎo)電基材上的絕緣涂層，像鋁、銅、黃銅表面的油漆、塑料涂層，以及鋁陽極氧化層等，ISOSCOPEDMP10型采用振幅敏感渦流法進(jìn)行測量，此方法遵循DINENISO2360標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。測量范圍：常規(guī)

菲希爾涂層測厚儀校準(zhǔn)測量信息2025/05/09

校正正常化（儀器歸零）：按下“校正”按鈕，按OK鍵進(jìn)入，按屏幕提示用未鍍過的底材（形狀和材質(zhì)需和被測量工件一致）測量3-5次，按OK鍵確認(rèn)，屏幕顯示“正常完成成功”后，再次按OK鍵完成。校正：按屏幕提示測量底材3-5次，不建議按“跳過”鍵，按OK鍵確認(rèn)。把標(biāo)準(zhǔn)片放在基材上，測量標(biāo)準(zhǔn)片3-5次，按“設(shè)置”鍵，用↑↓鍵調(diào)整數(shù)值直到和標(biāo)準(zhǔn)片相同，按“OK”鍵確定。若有第二片標(biāo)準(zhǔn)片，校正步驟同第一片，按“OK”確認(rèn)（儀器只附帶一片標(biāo)準(zhǔn)片，第二片時可直接跳過；如有多塊標(biāo)準(zhǔn)片，按從薄到厚的順序校正）。簡易校

泰勒霍普森圓度儀信息2025/05/08

Talyrond565/585XLPRO泰勒霍普森圓柱度儀帶有無摩擦空氣軸承主軸和可調(diào)節(jié)立柱，是測量大直徑部件和直徑達(dá)1米的非旋轉(zhuǎn)對稱部件的理想系統(tǒng)。該圓度測試儀包括全自動中心和水平儀以及自動厚度校準(zhǔn)等功能，可大大減少測量和設(shè)置時間，從而提高吞吐量。泰勒霍普森圓度儀Talyrond565/585可動柱適用于較大直徑的軸承，可在標(biāo)準(zhǔn)圓度系統(tǒng)范圍之外進(jìn)行圓度和平面度測量。結(jié)合全自動手臂姿態(tài)/定向機(jī)構(gòu)，Talyrond565/585XLPRO泰勒霍普森圓度儀可以接觸到最困難的組件。泰勒霍普森圓度儀由M

菲希爾鍍銀層測厚儀產(chǎn)品信息2025/05/08

FISCHERSCOPEX-RAYXDLM237x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀：FISCHERSCOPEX-RAYXDLXDLM系列與XULXUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器，準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細(xì)小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造良好的激勵條件。菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPEX-RAY

FISCHER代理XDV-SDD X射線測厚儀信息2025/05/08

FISCHERSCOPEX-RAYXDV-SDD菲希爾X射線測厚儀是Fischer產(chǎn)品組合中X射線熒光儀器之?。這臺XRF光譜儀配備了?分辨率和強?的硅漂移探測器(SDD)，其涂層--例如，引線框架上約2nm厚的?鍍層。結(jié)合內(nèi)部開發(fā)的新數(shù)字脈沖處理器DPP+，您可以將您的測量性能提?到?個新的?平。現(xiàn)在可以處理更?的計數(shù)率，從?縮短測量時間或提?測量結(jié)果的重復(fù)如，它對塑料中的微量鉛的檢測靈敏度約為2ppm-?RoHS或CPSIA中要求的數(shù)值低?個數(shù)量級。為了給每個XRF涂層厚度測量創(chuàng)造理想的條件

FISCHER代理XDLM231 X射線測厚儀信息2025/05/08

菲希爾公司FISCHER品牌的x-ray鍍層厚度檢測及材料分析儀是業(yè)內(nèi)的產(chǎn)品，在全球有著廣泛的客戶和良好的聲譽。FISCHERSCOPEX-RAYXDLM237菲希爾X射線鍍層厚度測試儀及材料分析儀采用手動或自動方式，測量和分析微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。FISCHERSCOPEX-RAYXDAL237SDD菲希爾X射線鍍層厚度測試儀及材料分析RoHs檢測儀，配備可編程運行XY工作臺及Z軸升降系統(tǒng)，全自動測量超薄鍍層厚度和分析材料成分。菲希爾代理FISCHERX射

菲希爾代理FISCHER測厚儀XDLM237信息2025/05/08

x射線熒光鍍層測厚儀FISCHERXDLM237德國菲希爾FISCHERSCOPEX-RAYXDLM237也稱為X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動或自動方式，菲希爾測厚儀FISCHER測厚儀，測量和分析微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。菲希爾測厚儀FISCHER測厚儀x射線熒光鍍層測厚儀FISCHERXDLM237德國菲希爾FISCHERSCOPEX-RAYXDLM237典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：1，測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零部件2，測量微小區(qū)域上的薄鍍層3，測量電子工業(yè)或半

菲希爾多功能測厚儀DUALSCOPE DMP40信息2025/05/06

菲希爾測厚儀DUALSCOPEDMP40專業(yè)級型號內(nèi)存：支持2500個batch，存儲250,000個數(shù)據(jù)菲希爾測厚儀DUALSCOPEDMP40可通過USB-C和藍(lán)牙輕松傳輸數(shù)據(jù)菲希爾測厚儀DUALSCOPEDMP40可通過光、聲音和振動信號監(jiān)控上下限經(jīng)久耐用：全鋁制外殼帶來更上一層樓的質(zhì)量和耐用性測量控制：通過光、聲和振動反饋測量值是否在公差范圍內(nèi)。契合：由于快速簡便的電池更換，可以全天候測量24/7數(shù)字探頭：用于苛刻測量任務(wù)的全數(shù)字化探頭老款探頭兼容：借助探頭適配器，可以使用所有現(xiàn)有的Fi

菲希爾雙功能測厚儀dualscope dmp20簡介2025/05/06

DUALSCOPEDMP20新一代手提式儀器和可更換的探頭可以提供無損且高精度的涂鍍層厚度測量。無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是在來料檢驗中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會提供友好的用戶體驗和多樣的選擇來滿足您的需求。由于采用了模塊化設(shè)計，您可以為您的特殊需求分別選擇儀器和探頭。對于儀器，您可以根據(jù)您的應(yīng)用從最新的DMP家族中選取；對于探頭，我們?yōu)槟峁┝舜罅扛呔鹊奶筋^，相信一定有一款適合您。DUALSCOPEDMP20菲希爾測厚儀特殊功能：-根據(jù)磁感應(yīng)法和（或）電渦流法無損測量涂鍍層厚度-自動識別

菲希爾電導(dǎo)率儀測試原理2025/05/06

用電導(dǎo)率法進(jìn)行測量。電導(dǎo)率是一種重要的材料特性。電導(dǎo)率測量可提供有關(guān)金屬特定電導(dǎo)率的信息，從而得出有關(guān)金屬成分、微觀結(jié)構(gòu)和機(jī)械性能的結(jié)論。因此，在許多應(yīng)用中，電導(dǎo)率是過程控制或產(chǎn)品監(jiān)測的重要組成部分。這就是電導(dǎo)率測量的工作原理。相敏渦流探頭由一個鐵氧體磁芯和兩個線圈組成。首先，勵磁線圈中的電流會產(chǎn)生高頻磁場（通常在千赫范圍內(nèi)）。這會在樣品中產(chǎn)生渦流。探頭包含第二個線圈--測量線圈，用于測量交流電阻（阻抗）。探頭阻抗受樣品中的渦流影響，與激勵電流（不含樣品的探頭）相比偏離相位（相位角φ）。相位角φ

菲希爾鐵素體FERITSCOPE FMP30信息2025/05/06

在奧氏體或雙相鋼必須承受高溫、侵蝕性物質(zhì)以及高壓的情況下，鐵素體含量至關(guān)重要。特別是在化工廠、能源設(shè)施及工廠中的現(xiàn)場測量場景中，F(xiàn)ISCHER手持式設(shè)備FERITSCOPEFMP30菲希爾鐵素體儀優(yōu)勢顯著。它提供多種探頭，即使在難以觸及的區(qū)域，也能可靠地測定鐵素體含量。FERITSCOPEFMP30菲希爾鐵素體儀產(chǎn)品特性高效測量：耐用、方便，可在現(xiàn)場快速、準(zhǔn)確地測定鐵氧體含量；探頭激活后自動開始測量。多樣顯示：以鐵素體百分比(%Fe)或鐵素體體積含量(FE)的方式顯示測量值。人性化設(shè)計：配備便于

菲希爾X熒光射線XULM240產(chǎn)品信息2025/05/06

菲希爾X熒光射線測厚儀FISCHERSCOPEX-RAYXULM系列作為一款高性能的X射線熒光鍍層及材料分析儀，以其緊湊精巧的設(shè)計與廣泛的適用性脫穎而出。該系列儀器憑借先進(jìn)的X射線熒光技術(shù)，能夠?qū)?xì)小工件的鍍層厚度進(jìn)行精準(zhǔn)的無損測量，并實現(xiàn)材料成分的高效分析，尤其適用于質(zhì)量管控、來料檢驗及生產(chǎn)過程控制等關(guān)鍵環(huán)節(jié)，為品質(zhì)把控提供可靠的數(shù)據(jù)支撐。菲希爾代理FISCHERSCOPEX-RAYXULM系列采用臺式設(shè)計，擁有簡潔直觀、易于操作的用戶界面，同時配備手動XY軸工作臺，可實現(xiàn)對細(xì)小樣品的精確夾持

菲希爾熒光測厚儀XULM240信息2025/04/29

菲希爾熒光測厚儀XULM240是一款性能出色、應(yīng)用廣泛的X射線熒光鍍層及材料分析儀，以下是其相關(guān)信息：儀器特點測量范圍廣：通過高壓發(fā)生器與濾片組合，可覆蓋極薄（如50nm金層）至較厚（如100μm錫層）的鍍層測量需求，實現(xiàn)全范圍精準(zhǔn)測量1。檢測效率高：比例計數(shù)器支持高達(dá)數(shù)千cps（每秒計數(shù)率）的高計數(shù)率，顯著提升檢測效率與數(shù)據(jù)穩(wěn)定性1。微區(qū)檢測精度高：配備微聚焦X射線管，最小測量點可達(dá)100μm，適用于接插件、微小觸點等精細(xì)結(jié)構(gòu)的鍍層分析。部分型號支持自動切換準(zhǔn)直器（如0.05×0.05mm至Φ

菲希爾XDL210測厚儀應(yīng)用信息2025/04/29

菲希爾XDL210測厚儀是一款能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，主要有以下應(yīng)用：電子與半導(dǎo)體行業(yè)印刷線路板測量1：可對印刷線路板上的各種鍍層進(jìn)行高精度測量，如薄金、鉑和鎳鍍層等，確保線路板的性能和質(zhì)量。功能性鍍層測量1：能測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層，例如用于保證良好導(dǎo)電性、絕緣性或其他特定功能的鍍層，幫助控制生產(chǎn)工藝，滿足電子元件的高精度要求。微小工件和線材測量1：憑借其高分辨率的彩色視頻攝像頭和激光輔助定位設(shè)備，可精確定位微小工件和線材上的測量點，實現(xiàn)對其表面鍍層的準(zhǔn)確測量