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北京歐波同光學(xué)技術(shù)有限公司

6
  • 2023

    12-09

    掃描電鏡在靜電紡絲技術(shù)中應(yīng)用

    納米科技是未來重要前沿科技之一,對該領(lǐng)域的探索應(yīng)用極大地豐富了人們對世界的認(rèn)知,并給人們的生活帶來變革。近年來納米材料在相關(guān)領(lǐng)域表現(xiàn)突出,制備納米材料的方法越來越豐富,靜電紡絲技術(shù)是制備納米纖維較有效的方法,已經(jīng)成為研究熱點(diǎn)。靜電紡絲法具有操作簡單、工藝可控及可紡物質(zhì)多等優(yōu)點(diǎn),圖1為靜電紡絲裝置的結(jié)構(gòu)示意圖,主要由三部分組成:高壓電源、帶有金屬針的注射器和收集器(通常是金屬濾網(wǎng)或旋轉(zhuǎn)心軸)。當(dāng)在收集器和噴絲頭之間施加高壓時,由于聚合物溶液的液滴帶電,在粘性力、表面張力和靜電力的協(xié)同作用下,一旦靜
  • 2023

    12-07

    如何進(jìn)行透射掃描電子顯微鏡的維護(hù)和保養(yǎng)?

    透射掃描電子顯微鏡是一種高精度的分析儀器,為了保持其正常運(yùn)行和保持良好的工作狀態(tài),需要進(jìn)行以下幾方面的維護(hù)和保養(yǎng):1、真空系統(tǒng)的維護(hù):透射掃描電子顯微鏡操作必須在真空環(huán)境下進(jìn)行,因此需要對真空泵、閥門等設(shè)備進(jìn)行定期保養(yǎng)和維護(hù),以確保真空系統(tǒng)的正常運(yùn)行。如果發(fā)現(xiàn)真空度異常或漏氣等情況,應(yīng)及時檢修,保證設(shè)備的穩(wěn)定性和精度。2、TEM樣品架的清潔:樣品架是用來支撐樣品的重要部件,需要經(jīng)常進(jìn)行清潔以避免污染和樣品粘附。每次實驗后應(yīng)及時清洗樣品架,并保持干燥,避免細(xì)菌滋生和樣品殘留。3、電子槍的維護(hù):電子
  • 2023

    12-01

    場發(fā)射掃描電鏡在哪些領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用?

    場發(fā)射掃描電鏡是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù),可用于觀察樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)。它使用場發(fā)射電子源產(chǎn)生高能電子束,并通過透鏡系統(tǒng)將電子聚焦到樣品表面上。樣品與電子束相互作用后,產(chǎn)生的反射、散射和二次電子等信號被收集并轉(zhuǎn)換成圖像。場發(fā)射掃描電鏡主要的幾個應(yīng)用領(lǐng)域如下:1、生物學(xué)和醫(yī)學(xué):可以用于觀察和研究細(xì)胞、病毒、細(xì)菌等微小生物樣本的形貌和結(jié)構(gòu),幫助科學(xué)家們更深入地了解這些生物體的生命活動和特性。此外,在醫(yī)學(xué)領(lǐng)域,還可以用于觀察病理切片、細(xì)胞凋亡和病毒顆粒等樣本,為疾病診斷和治療提供幫助。2、材料科學(xué)
  • 2023

    11-21

    鎢燈絲掃描電鏡可應(yīng)用的領(lǐng)域有哪些

    鎢燈絲掃描電鏡是一種常見的電子顯微鏡,它使用鎢燈絲作為電子源,通過掃描樣品表面來產(chǎn)生高分辨率的圖像。這種電鏡通常可以在不同的電壓段下工作,從而獲得不同分辨率的圖像。鎢燈絲掃描電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域非常廣泛,可以適用于不同領(lǐng)域的樣品分析和研究工作:金屬材料:包括鋼鐵、冶金、有色金屬和機(jī)械加工等領(lǐng)域的金屬材料分析和研究。非金屬材料:如化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維等領(lǐng)域的非金屬材料分析和研究。材料科學(xué)研究:進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析,以及材料斷口分析和失效分析等。半導(dǎo)體材料
  • 2023

    11-11

    鎢燈絲掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用有哪些?

    鎢燈絲掃描電鏡是一種重要的顯微鏡技術(shù),在材料科學(xué)領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。下面將介紹幾個常見的應(yīng)用領(lǐng)域:1、表面形貌與結(jié)構(gòu)分析:鎢燈絲掃描電鏡可以提供高分辨率的表面形貌信息,揭示材料的微觀表面特征、形貌、紋理和結(jié)構(gòu)。它可用于研究材料表面粗糙度、晶體結(jié)構(gòu)、晶界、相分布等。2、失效分析與缺陷檢測:在材料失效分析中起到關(guān)鍵作用。它能夠檢測材料中的裂紋、斷口、氧化層、腐蝕、疲勞、焊接缺陷等缺陷,并幫助確定失效機(jī)制和原因。這對于改善材料的可靠性和性能非常重要。3、界面與界面反應(yīng)研究:鎢燈絲掃描電鏡可用于研究不同材
  • 2023

    11-08

    SEM掃描電子顯微鏡可以用于哪些領(lǐng)域的研究?

    SEM掃描電子顯微鏡的應(yīng)用范圍非常廣泛,不僅掃描電子顯微鏡的應(yīng)用范圍非常廣泛,不僅在材料科學(xué)領(lǐng)域有深入的應(yīng)用,還在其他多個領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用。SEM掃描電子顯微鏡的工作原理是利用細(xì)聚焦的高能電子束在樣品表面掃描,通過電子束與物質(zhì)的相互作用來激發(fā)各種物理信號。當(dāng)一束高能的入射電子轟擊樣品表面時,被激發(fā)的區(qū)域會產(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征X射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子,以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射等多種物理信息。這些物理信號被相應(yīng)的接收器接收,經(jīng)過放大后送到顯像管的柵極上
  • 2023

    11-05

    聚焦離子束顯微鏡的基本功能有哪些?

    聚焦離子束顯微鏡是一種先進(jìn)的材料表征和納米加工工具,具有多種基本功能。以下是聚焦離子束顯微鏡的基本功能:1、樣品制備:FIB系統(tǒng)可以對樣品進(jìn)行切割、刻蝕、沉積等處理,以便于觀察其內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和成分分布。此外,F(xiàn)IB還可以制備用于透射電鏡觀察的樣品。2、高分辨率成像:FIB系統(tǒng)可以提供高分辨率的成像能力,能夠觀察到材料的微觀結(jié)構(gòu)、晶體形態(tài)和成分分布等信息。通過調(diào)整離子束的能量和掃描速度,可以實現(xiàn)對不同深度的材料成像。3、定點(diǎn)切割:FIB系統(tǒng)可以進(jìn)行精確的定點(diǎn)切割,可以在原子級別上控制切割的位置和深度
  • 2023

    11-02

    應(yīng)用分享 | Axia ChemiSEM在發(fā)束中的表征應(yīng)用

    隨著時代的進(jìn)步和發(fā)展,人們對美的追求已經(jīng)不僅僅局限于臉部皮膚的保養(yǎng),手部皮膚是否細(xì)嫩,頭發(fā)發(fā)絲是否呈現(xiàn)健康光澤,發(fā)量是否健康等都會影響一個人的整體氣質(zhì)。頭發(fā)主要由表皮層、皮質(zhì)層、髓質(zhì)層等組成,表皮層主要由許多細(xì)小的鱗片重疊而成,這就是我們熟知的毛鱗片,它可以保護(hù)我們的頭發(fā)抵御外界傷害。由于人眼的分辨率有限,所以我們?nèi)庋塾^察不到微米級別的毛鱗片,借助AxiaChemiSEM落地式鎢燈絲掃描電子顯微鏡,可以幫助我們觀察頭發(fā)毛鱗片的形貌和成分,分析它的健康程度,從而協(xié)助我們有目的性地從外到內(nèi)養(yǎng)護(hù)我們的
  • 2023

    11-02

    FIB雙束掃描電鏡的主要組成部分有哪些?

    FIB雙束掃描電鏡是一種結(jié)合了聚焦離子束和掃描電子顯微鏡的高精度微納加工和分析設(shè)備。它的主要組成部分包括以下幾個部分:1、離子源:FIB系統(tǒng)是FIB雙束掃描電鏡的核心部分,用于產(chǎn)生離子束。離子源通常采用電子轟擊或液態(tài)金屬源等方法產(chǎn)生離子。2、離子透鏡系統(tǒng):離子透鏡系統(tǒng)由一組電磁透鏡組成,用于對離子束進(jìn)行聚焦和調(diào)節(jié)。通過離子透鏡系統(tǒng),可以實現(xiàn)對樣品表面的精細(xì)加工和成像。3、樣品室:樣品室是放置待加工和觀察樣品的空間。樣品室通常采用高真空環(huán)境,以減少氣體分子對離子束的影響。4、掃描器:掃描器負(fù)責(zé)控制
  • 2023

    10-16

    智能型鎢燈絲掃描電鏡在生物學(xué)研究中的應(yīng)用

    智能型鎢燈絲掃描電鏡在生物學(xué)研究中具有廣泛的應(yīng)用前景。以下是關(guān)于其應(yīng)用的一些重要方面:1、細(xì)胞和組織結(jié)構(gòu)分析:智能型鎢燈絲掃描電鏡可以提供高分辨率的圖像,使得研究人員能夠觀察和分析生物樣本的微觀結(jié)構(gòu)。通過該技術(shù),研究人員可以研究細(xì)胞器、膜系統(tǒng)、細(xì)胞骨架等細(xì)胞內(nèi)部結(jié)構(gòu)的形態(tài)和組織。2、超微結(jié)構(gòu)表征:能夠觀察和研究生物樣本的超微結(jié)構(gòu),包括細(xì)胞表面特征、微觀形貌和納米級細(xì)節(jié)。這對于研究細(xì)菌、病毒、細(xì)胞外基質(zhì)以及其他微生物體的形態(tài)學(xué)特征和相互作用至關(guān)重要。3、分子定位和顯微操作:可配合探針標(biāo)記等技術(shù),定
  • 2023

    10-13

    高性能場發(fā)射掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用

    高性能場發(fā)射掃描電鏡在材料科學(xué)中具有廣泛的應(yīng)用。下面列舉了一些重要的應(yīng)用領(lǐng)域和方法:1、表面形貌觀察:高性能場發(fā)射掃描電鏡可以提供高分辨率的表面形貌圖像。這對于研究材料的表面結(jié)構(gòu)、紋理、孔隙分布等特征非常重要。例如,在薄膜、涂層、納米顆粒等材料中,能夠顯示出微觀尺度上的表面形貌,幫助了解其性能、結(jié)構(gòu)和制備過程。2、成分分析:可以實現(xiàn)元素組成分析。通過探測樣品表面散射的電子或X射線,可以獲得樣品中不同元素的信號強(qiáng)度和分布情況,從而確定材料的成分。3、結(jié)構(gòu)分析:還可以使用衍射模式圖來研究材料的結(jié)晶性
  • 2023

    10-13

    場發(fā)射掃描電鏡能對這些材料做哪些事?

    場發(fā)射掃描電鏡(FESEM)是一種電子顯微鏡,具有超高分辨率,可以用于觀察各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象,還可以進(jìn)行圖像處理。FESEM具有以下優(yōu)勢:1、表面形貌觀察:FESEM可以提供高分辨率的表面形貌觀察,使科學(xué)家能夠詳細(xì)地研究材料的表面結(jié)構(gòu)和形貌,包括材料的顆粒大小、形狀、表面缺陷等。這對于研究材料的性能、制備工藝和下游應(yīng)用等都非常有幫助。2、成分分析:FESEM的二次電子成像原理不僅可以提供高分辨率的表面形貌圖像,還可以提供元素分布信息。這使得科學(xué)家能夠?qū)Σ牧系某煞诌M(jìn)行分析
  • 2023

    10-10

    超高分辨場發(fā)射掃描電鏡的工作原理是什么?

    超高分辨場發(fā)射掃描電鏡是一種重要的顯微鏡技術(shù),用于觀察物質(zhì)的表面形貌和表征納米結(jié)構(gòu)。其工作原理涉及電子光學(xué)、電子源和探測器等多個方面。超高分辨場發(fā)射掃描電鏡的工作原理如下:1、電子源發(fā)射:使用熱陰極或場發(fā)射陰極作為電子源。通過加熱熱陰極或在場發(fā)射陰極上施加高電壓,使得電子從陰極表面解離出來并形成電子束。2、電子光學(xué):電子束經(jīng)過一系列的電子透鏡系統(tǒng)進(jìn)行聚焦和控制。主要包括透鏡組合、孔徑調(diào)制器和掃描線圈。透鏡組合用于聚焦和調(diào)節(jié)電子束的形狀和大小。孔徑調(diào)制器控制透射電子的數(shù)量和角度,以提高圖像的深度和
  • 2023

    10-07

    環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡在哪些領(lǐng)域中被廣泛應(yīng)用?

    環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡是一種高級顯微鏡,結(jié)合了傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡和環(huán)境控制技術(shù)。它在許多領(lǐng)域中被廣泛應(yīng)用,包括以下方面:1、材料科學(xué):環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡可用于研究各種材料的表面形貌、結(jié)構(gòu)和組成。它能夠在大氣環(huán)境下進(jìn)行觀察,不需要對樣品進(jìn)行復(fù)雜的處理或真空干燥,因此適用于含水分和易揮發(fā)物質(zhì)的樣品。材料的納米結(jié)構(gòu)、晶體生長、相變和界面分析等都可以通過其進(jìn)行研究。2、生物科學(xué):它使得對生物樣品進(jìn)行原位觀察成為可能。生物體內(nèi)的濕潤樣品、柔軟樣品、活細(xì)胞和生物材料等可以直接在ESEM中觀察。這對于研究生物材
  • 2023

    09-15

    鎢燈絲掃描電鏡和場發(fā)射掃描電鏡是一樣的嗎?

    在掃描電鏡中,鎢燈絲電鏡與場發(fā)射電鏡有著不少的相似之處。比如說,都配有電子槍即發(fā)射電子的裝置,具有陰極和陽極,且陰極都是點(diǎn)源發(fā)射。但是,兩者間區(qū)別也是非常值得各位關(guān)注的。比如在發(fā)射機(jī)制上。鎢燈絲掃描電鏡屬于熱發(fā)射,在燈絲電極加直流電壓,鎢絲發(fā)熱,使用溫度一般在2600K~2800K之間,鎢絲有很高的電子發(fā)射效率,溫度越高電流密度越大,理想情況下的的電子槍亮度越高。由于材料的蒸發(fā)速度隨溫度升高而急劇上升,因此鎢燈絲的壽命比較短,一般在50~200小時之間,這個和設(shè)定的燈絲溫度有關(guān)。由于電子發(fā)射溫度
  • 2023

    09-10

    分析STEM透射電鏡在生物學(xué)研究中的應(yīng)用

    STEM透射電鏡是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù),結(jié)合了透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)。它在生物學(xué)研究中有廣泛的應(yīng)用,為科學(xué)家們提供了觀察和研究生物樣品的細(xì)節(jié)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)的能力。首先,STEM透射電鏡可以提供高分辨率的圖像。由于其使用的電子束具有很小的波長,相比光學(xué)顯微鏡,它能夠獲得更高的分辨率,揭示出更細(xì)微的生物結(jié)構(gòu)。這對于研究細(xì)胞器、細(xì)胞核、蛋白質(zhì)復(fù)合物以及其他細(xì)胞組分的形態(tài)和組織架構(gòu)非常重要。其次,可以進(jìn)行元素分析。通過使用能量散射譜(EDS)或電子能損失譜(EELS)等技術(shù),科學(xué)家們可以確
  • 2023

    09-07

    高分辨率掃描電鏡:窺探微觀世界的細(xì)節(jié)

    高分辨率掃描電鏡是一種強(qiáng)大而廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)領(lǐng)域的工具。它利用電子束與樣品交互作用產(chǎn)生的信號來獲取高分辨率的圖像,能夠讓我們深入了解微觀世界中的細(xì)節(jié)和結(jié)構(gòu)。相比傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡,高分辨率掃描電鏡具有更高的放大倍數(shù)和更優(yōu)秀的分辨率。傳統(tǒng)顯微鏡使用可見光在樣品表面反射或透射形成圖像,受到光的波長限制,最大分辨率約為0.2微米。而它則利用電子束,其波長遠(yuǎn)小于光的波長,可以達(dá)到納米級的分辨率,使得我們可以看到更加精細(xì)的結(jié)構(gòu)和表面特征。高分辨率掃描電鏡的工作原理是將電子束聚焦在樣品表面,并測量從樣品
  • 2023

    09-04

    環(huán)境掃描電鏡在大氣污染研究中的應(yīng)用分析

    環(huán)境掃描電鏡是一種重要的工具,廣泛應(yīng)用于大氣污染研究中。它結(jié)合了傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡(SEM)和環(huán)境試驗室技術(shù),能夠在高真空或濕度控制的大氣環(huán)境下觀察樣本,并提供高分辨率的圖像和化學(xué)成分信息。環(huán)境掃描電鏡在大氣污染研究中的幾個應(yīng)用方面的分析:1、大氣顆粒物分析:可用于觀察和表征大氣中的顆粒物,如PM2.5和PM10等細(xì)顆粒物。通過該技術(shù),可以獲得顆粒物的形貌、尺寸分布、表面特性以及元素組成等信息,有助于了解顆粒物來源、形成機(jī)制和對健康和環(huán)境的影響。2、污染物的微觀形貌分析:可以觀察和分析大氣中的
  • 2023

    09-01

    聚焦離子束電鏡:揭秘微觀世界的奧秘

    聚焦離子束電鏡是一種強(qiáng)大的工具,它在微觀尺度上提供了分辨率和表面成像能力。通過使用高速、高能量的離子束,可以深入物質(zhì)內(nèi)部,并觀察到原子級別的細(xì)節(jié)。本文將介紹其工作原理和應(yīng)用領(lǐng)域。聚焦離子束電鏡的核心是離子源和聚焦系統(tǒng)。離子源產(chǎn)生高能量的離子束,而聚焦系統(tǒng)則控制離子束的方向和聚焦度。離子束進(jìn)入樣品后,與樣品中的原子或分子相互作用,產(chǎn)生多種信號。這些信號包括反射離子、離子散射、二次離子等。通過檢測和分析這些信號,生成高分辨率的圖像。聚焦離子束電鏡在材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物科學(xué)等領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。在
  • 2023

    08-14

    環(huán)境掃描電子顯微鏡適用于哪些樣品類型?

    環(huán)境掃描電子顯微鏡是一種先進(jìn)的顯微鏡技術(shù),可以在相對較高的濕度和低真空條件下觀察樣品。環(huán)境掃描電子顯微鏡廣泛應(yīng)用于各種不同類型的樣品研究,包括但不限于以下幾個領(lǐng)域:1、生物學(xué):可用于生物樣品的觀察和研究。由于可以在濕潤的環(huán)境中工作,適用于觀察活細(xì)胞、細(xì)菌、微生物和生物材料等。它提供了觀察這些樣品在自然狀態(tài)下的形態(tài)、結(jié)構(gòu)和相互作用的能力。2、材料科學(xué):可用于分析各種材料,包括金屬、陶瓷、聚合物、復(fù)合材料和納米材料等。通過使用,可以觀察材料的表面形貌、晶體結(jié)構(gòu)、晶粒大小和分布、缺陷和界面特征等。此外
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