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01-261100℃ 1500℃ 高溫真空探針臺溫度穩(wěn)定±1℃
1100℃1500℃高溫真空探針臺溫度穩(wěn)定±1℃樣品臺26x26mm同時可用于光學(xué)測試電學(xué)測試光學(xué)反射透窗距樣品間距9mm可擴展透視窗透孔2mm電學(xué)測試4探針外接3同軸bnc腔體不銹鋼材質(zhì)180x90x37mm上下面水冷該腔體設(shè)計有進氣口和抽真空接口其真空度用機械泵可達<5Pa分子泵可達<-3Pa。真空信號連接處使用真空電極信號接頭,保證氣密性及抗干擾性能。使用時將需將待檢測的器件方在加熱臺面,探針頂尖處由3軸可移動探針手動調(diào)節(jié)移動至被測試器件的引腳處,外部信號線連接測試儀器來測試電學(xué)信號。2022
01-262022
01-262021
06-01In Situ Assembly of Ordered Hierarchical CuO Microhemisphere Nanowire Arrays for High-Performance
InSituAssemblyofOrderedHierarchicalCuOMicrohemisphereNanowireArraysforHigh-PerformanceBifunctionalSensingApplicationsTiantianDai,ZanhongDeng,XiaodongFang,*HuadongLu,YongHe,JunqingChang,ShimaoWang,NengweiZhu,LiangLi,*andGangMeng*1.IntroductionDevicefa2021
03-242020
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