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2025
05-13高溫材料光譜發射率測量：傅里葉光譜儀FTIR+超高溫黑體爐裝置
傅里葉紅外光譜儀（FTIR）在高溫材料的光譜發射率測量中的應用在高溫條件下，材料的光譜發射率是評估其熱輻射特性和熱性能的重要指標。隨著航空航天、國防、能源以及材料科學等領域的不斷發展，研究和測量高溫材料的光譜發射率變得日益重要。傅里葉紅外光譜儀（FTIR）設備因其高精度和高分辨率的優勢，已成為測量高溫材料光譜發射率的主要工具之一。本文將介紹FTIR設備在高溫材料光譜發射率測量中的應用，探討其工作原理、測量過程以及在相關領域中的重要性。光譜發射率的概念與意義光譜發射率指的是材料在特定波長范圍內的輻2025
05-09Impac IN 140/5-L光學高溫計：激光增材石英玻璃熔池溫度測量與控制
在激光增材制造過程中，熔池溫度的精準控制對石英玻璃的質量至關重要。通過研究激光功率與熔池溫度之間的關系，采用光學高溫計進行實時監測，并結合PID控制算法實現了閉環溫度控制。實驗表明，該控制系統能夠有效維持熔池溫度的穩定，從而提高了石英玻璃的增材質量。激光增材制造技術廣泛應用于材料加工，特別是在玻璃和陶瓷等高性能材料的加工中。石英玻璃具有較高的熔化溫度和良好的透明性，因此在增材制造中需要精確控制其熔池溫度，以避免過熱或溫度不足所引發的質量問題。熔池溫度不僅影響玻璃的熔化過程，也直接關系到最終產品的2025
05-08EXIR系列熱像儀MRTD、NETD測試系統：模擬真實野外場景
模擬熱像儀真實使用場景，EXIR系列熱像儀測試系統在軍事偵察、安防監控、工業檢測等領域，熱像儀的性能直接影響著設備在復雜環境中的可靠性。然而，傳統實驗室測試系統僅能在恒溫條件下評估熱像儀參數（如MRTD、MTD、NETD），而實際應用中，熱像儀常面臨-40°C至+60°C的環境溫度波動與背景溫度差異。這種“實驗室優秀，實戰失效”的痛點，正是Inframet推出的EXIR系列野外真實條件測試系統所要解決的核心問題。為何需要EXIR？重新認識熱像儀測試的三大盲區環境溫度與背景溫度脫節實驗室測試通常將2025
05-07IMPAC IS 140/IGA 140高溫紅外測溫儀：量程220°C 至 3500°C
產品簡介IMPACIS140/IGA140系列紅外測溫儀是由上海明策電子推薦高精度數字式非接觸溫度測量設備，專為金屬、陶瓷、石墨等高溫材料的工業加工過程設計。該系列測溫儀采用先進的可變焦光學系統，具備快速響應能力和多種瞄準方式，適用于220°C至3500°C的溫度測量范圍。其模塊化設計和多種通信接口選項，使其易于集成至各種自動化控制系統中，滿足嚴苛工業環境下的測溫需求。產品優勢高速響應：響應時間短至1毫秒，適用于快速熱處理工藝如淬火、焊接等。極小測量區域：最小測量區域直徑低至0.35mm，適合精2025
05-06激光金屬沉積（LMD）裂紋檢測：實時溫度曲線準確識別裂紋位置
本篇文章主要分享利用紅外單色高溫計IGA320/23-LO（IMP）對（工業級）激光金屬沉積（LMD）過程中的裂紋進行實時在線檢測的方法。激光金屬沉積技術是一種先進的增材制造技術，但在制造過程中容易產生裂紋和氣泡等缺陷，這些缺陷如果未及時檢測和修復，可能造成嚴重的損失。通過設計一個實驗平臺，利用IMP對316L奧氏體不銹鋼LMD樣品上的模擬裂紋進行了檢測實驗。研究發現，通過IMP記錄的溫度變化曲線能夠準確識別裂紋位置，并且裂紋深度越大，記錄的溫度峰值也越高。因此，論文提出的方法能夠實時監控LMD2025
04-30高溫法向光譜發射率測量裝置：超高溫黑體+傅里葉光譜儀(FTIR)
法向光譜發射率作為材料熱輻射特性的重要參數，在優化高溫材料的熱處理工藝和提高能量利用效率方面發揮著重要作用。然而，目前大多數研究中測量溫度相對較低或范圍較窄，且主要集中于穩態溫度測量，使得航空和工業領域對寬溫度范圍內光譜發射率研究的需求難以滿足。為解決這一難題，一種寬溫度范圍的法向光譜發射率快速測量裝置被提出。該裝置采用超高頻電磁感應加熱器對樣品進行動態加熱，并結合可調節檢測區域的光學系統，以光纖光譜儀快速響應的特性，迅速測量所需溫度范圍內的輻射信號。一、加熱系統加熱系統由以下關鍵部件組成：電磁2025
04-292025
04-282025
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04-25?ORI熱像儀鏡頭測試系統：MTF（調制傳遞函數）畸變、視差、色差等
隨著紅外成像技術的迅猛發展，熱像儀已廣泛應用于軍事、安防、醫學等多個領域。高性能的熱像儀鏡頭是確保圖像質量的關鍵組成部分，因此，熱像儀制造廠商和鏡頭研發科研人員迫切需要一款能夠精確、快速評估鏡頭性能的測試系統。ORI熱像儀鏡頭測試系統應運而生，成為滿足這一需求的理想解決方案。高效的測試平臺：適用于紅外熱像儀鏡頭ORI熱像儀鏡頭測試系統是一款模塊化的通用光學測試站，能夠測試包括中波紅外（MWIR）和長波紅外（LWIR）在內的各種紅外光學鏡頭。其設計和先進的測試方法使得ORI系統在測試紅外鏡頭時展現2025
04-242025
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04-23?紅外熱像儀成像質量評價系統：MRTD、NETD熱像儀測試系統
紅外熱像儀的成像質量評價是一個復雜的過程，涉及多個測試方法和參數。主要的評價指標包括:1.熱靈敏度(NETD,NoiseEquivalentTemperatureDifference):描述儀器檢測最小溫差的能力。以毫克爾文(mK)計量，數值越小，靈敏度越高，成像質量越好。2.最小可辨溫差(MRTD,MinimumResolvableTemperatureDifference):是衡量紅外熱像儀性能的重要參數之一，它表示儀器能分辨出的最小溫度差異。具體來說是指在一定的觀察距離下，儀器能夠分辨兩個2025
04-22熱像儀MRTD（最小可分辨溫差）測試及熱像儀MRTD測試系統
MRTD（最小可分辨溫差）是一個主觀參數（函數），描述了成像儀-人類系統在不同對比度和不同尺寸的參考目標下，分辨目標細節的能力。具體來說，它是一個函數，表示分辨標準4條條紋目標（條紋的長寬比為7）與背景之間的最小溫差，在不同空間頻率下觀察者仍然能夠分辨出條紋的溫差。空間頻率被理解為4條條紋目標中一對條紋的反向角度大小。MRTD通常通過人工分析圖像中的4條條紋目標來測量，該目標具有可變的溫差（圖43-44）。觀察者的任務通常是找到一個最小的溫差值，使得他在仍能分辨出條紋的情況下，能夠分辨給定空間頻2025
04-212025
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04-17D&S太陽光譜反射儀 SSR-ER：符合ASTM C1549-04、E891-87 等標準
在太陽能材料、節能建筑、光學涂層和航空航天等高精尖領域，對材料在不同太陽輻照條件下的反射特性有著嚴格的測量需求。D&S太陽光譜反射儀SSR-ER：符合ASTMC1549-04、E891-87等標準，正是為滿足這一需求而打造的一款高精度、多功能光譜測量設備。設備概述SSR-ERv6采用可選擇的太陽光譜測量模式，精確模擬多種全球與直射太陽輻照度模型，適用于各種漫反射與鏡面材料，包括厚度達6.4毫米的二次反射面。其測量分辨率達0.001單位，重復性優于0.003單位，為太陽反射率與吸收率測量樹立了新標2025
04-162025
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04-15MS多傳感器/激光測試系統：可進行MTF、MRTD高精度測試
MS多傳感器/激光測試系統作為上海明策電子科技有限公司提供的一款模塊化測試平臺，專為多光譜成像與激光系統設計，可測試包括熱成像儀、可見光/近紅外（VIS-NIR）相機、短波紅外（SWIR）相機、激光測距儀、指示器等設備。核心優勢：1.多傳感器兼容性：支持云臺型、俯仰型、箱式及便攜式光電系統。2.高精度測試：可測量MTF（調制傳遞函數）、MRTD（最小可分辨溫差）、激光發散角等20余項關鍵參數。3.靈活配置：通過30余個可更換模塊，適配不同測試需求，覆蓋120mm至1000mm孔徑的光學系統。測試掃一掃訪問手機商鋪
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