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在底片黑度，像質(zhì)計(jì)靈敏度符合要求的情況下，哪些缺陷仍會漏檢？2016/12/30: （1）小缺陷。如果小缺陷的影像尺寸小于不清晰度尺寸，影像對比度小于zui小可見對比度，便不能識別。因此對一定的透照條件，存在著一個(gè)可檢出缺陷的臨界尺寸，小于臨界尺寸的缺陷便不能檢出；例如小氣孔、夾渣、微裂紋、白點(diǎn)等。（2）與照射方向不平行的平面缺陷。平面型缺陷具有方向性，當(dāng)缺陷平面與射線之間夾角過大，會使對比度降低，甚至在底片上不產(chǎn)生影像，從而造成漏檢。例如坡口及層間未熔合、鋼板分層的漏檢以及透照工藝不當(dāng)，0角過大造成橫向裂紋漏檢均屬此類情況。（3）閉合緊密的缺陷。對某些緊閉缺陷即使透照角度在允

常用控制散射線的方法有哪些？2016/12/30: （1）使用鉛箔增感屏，吸收部分前散射線和背散射線；（2）暗盒后襯鉛板，進(jìn)一步減少背散射源；（3）使用鉛罩和鉛光闌，限制照射范圍，減少散射源；（4）采用鉛遮板或鋇泥屏蔽試件邊緣，減少“邊蝕”效應(yīng)；（5）用流質(zhì)吸收劑或金屬粉末對形狀不規(guī)則及厚度差較大的試件進(jìn)行厚度補(bǔ)償，以減少較薄部分散射線對較厚部分的影響；（6）采用濾板去除射線中線質(zhì)較軟的部分，減小“邊蝕”效應(yīng)；（7）減小或去除焊縫余高，降低焊縫部位散射線比。

什么是影響射線照相影像質(zhì)量的三要素？2016/12/30: 影響射線照相影像質(zhì)量的三個(gè)要素是：對比度、清晰度、顆粒度。射線照相對比度定義為射線照相底片上某一小區(qū)域和相鄰區(qū)域的黑度差。射線照相清晰度定義為射線照相底片上的黑度變化過渡區(qū)域的寬度。用來定量描述清晰度的是“不清晰度”。射線照相顆粒度是根據(jù)測微光密度計(jì)測出的數(shù)據(jù)、按一定方法求出的所謂底片黑度漲落的客觀量值。

像質(zhì)計(jì)如何使用和放置？2016/12/30: 像質(zhì)計(jì)一般應(yīng)放置在工件源側(cè)表面焊接接頭的一端（在被檢區(qū)長度的1/4左右位置），金屬絲應(yīng)橫跨焊縫，細(xì)絲置于外側(cè)。當(dāng)一張膠片上同時(shí)透照多條焊接接頭時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在透照區(qū)zui邊緣的焊縫處。像質(zhì)計(jì)放置的原則：（1）單壁透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在源側(cè)。雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)。雙壁雙影透照像質(zhì)計(jì)可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)。（2）單壁透照中，如果像質(zhì)計(jì)無法放置在源側(cè)，允許放置在膠片側(cè)。（3）單壁透照中像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)進(jìn)行對比試驗(yàn)。對比試驗(yàn)方法是在射線源側(cè)和膠片側(cè)各放置一個(gè)像質(zhì)計(jì)，用于工件

膠片的選用一般應(yīng)考慮哪些因素？2016/12/30: 膠片的選用應(yīng)根據(jù)射線照相技術(shù)要求及射線的質(zhì)、工件厚度、材料種類等條件綜合考慮，一般來說：（1）可按像質(zhì)計(jì)要求高低選用，如需要較高的射線照相質(zhì)量，則需使用號數(shù)較小的膠片；（2）在能滿足像質(zhì)計(jì)要求的前提下，如需縮短曝光時(shí)間，可使用號數(shù)較大的膠片；（3）工件厚度較小、工件材料等效系數(shù)較低或射源線質(zhì)較硬時(shí)，可選用號數(shù)較小的膠片；（4）在工件環(huán)境溫度較高時(shí)，宜選用抗潮性能較好的膠片；在工件環(huán)境較干燥時(shí)，宜選用抗靜電感光性能較好的膠片。

X射線機(jī)維護(hù)、保養(yǎng)的注意事項(xiàng)2016/12/30: 1、X射線機(jī)應(yīng)擺放在通風(fēng)干燥處，切忌潮濕、高溫、腐蝕等環(huán)境，以免降低絕緣性能2、運(yùn)輸時(shí)要采取防震措施，避免因劇烈震動而造成接頭松動、高壓包移位、X射線管破損等；3、保持清潔，防止塵土、污物造成短路和接觸不良；4、保持電纜頭接觸良好，如果使用時(shí)間過長，磨損松動，接觸不良，則應(yīng)及時(shí)更換；5、經(jīng)常檢查機(jī)頭是否漏油（窗口處有氣泡）、漏氣（壓力表示值低于0.34Mpa），應(yīng)注意及時(shí)予以補(bǔ)充，確保絕緣性能滿足要求。

射線可分為哪幾類，用于工業(yè)探傷的射線有哪幾類？2016/12/30: （1）X射線和y射線。他們都是波長很短的電磁波，按波粒二相性觀點(diǎn)，也可以看作是能量很高的光子流。X射線是高速運(yùn)動的電子撞擊金屬產(chǎn)生的；y射線是放射型同位素在y衰變過程中從原子內(nèi)核內(nèi)發(fā)出的。（2）電子射線和β射線。他們都是高速電子流。電子射線是通過加速電子得到的；β射線是放射性同位素在β衰變過程中從原子內(nèi)核內(nèi)發(fā)出的。（3）4質(zhì)子射線、氘核射線和α射線。他們都是帶正電的粒子流，質(zhì)子是普通氫氣原子核H；氘核是氫同位素氘H2?的原子核，有一個(gè)質(zhì)子和1和中子構(gòu)成；α粒子是氦原核He，有2個(gè)質(zhì)子與2個(gè)中子構(gòu)

銅、鎳、銅制承壓設(shè)備各級別熔化焊焊接接頭允許的圓形缺陷點(diǎn)數(shù)2016/12/28: 銅、鎳、銅制承壓設(shè)備各級別熔化焊焊接接頭允許的圓形缺陷點(diǎn)數(shù)評定區(qū)/mm×mm10×1010×2010×30母材公稱厚度T/mm≤10＞10～15＞15～25＞25～50＞50～100＞100Ⅰ級123456Ⅱ級369121518Ⅲ級61218243036Ⅳ級缺陷點(diǎn)數(shù)大于Ⅲ級或缺陷長徑大于T/2注：當(dāng)母材公稱厚度不同時(shí)，取較薄板的厚度。

X射線探傷中評片注意事項(xiàng)2016/12/28: X射線探傷中評片注意事項(xiàng)一、評片一般應(yīng)在的評片室內(nèi)進(jìn)行。評片室應(yīng)整潔、安靜，溫度適宜，光線應(yīng)暗且柔和。二、評片人員在評片前應(yīng)經(jīng)歷一定時(shí)間的暗適應(yīng)時(shí)間。從陽光下進(jìn)入評片的暗適應(yīng)時(shí)間一般為5min-10min；從一般的室內(nèi)進(jìn)入評片的暗適應(yīng)時(shí)間應(yīng)不少于30s。三、評片時(shí)，底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)符合下列規(guī)定：a）當(dāng)?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度D≤2.5時(shí)，透過底片評定范圍內(nèi)的亮度不低于30cd/m2；b）當(dāng)?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度D＞2.5時(shí)，透過底片評定范圍內(nèi)的亮度不低于10cd/m2；

小經(jīng)管環(huán)向焊接接頭的透照布置2016/12/27: 小經(jīng)管環(huán)向焊接接頭的透照布置小經(jīng)管環(huán)向焊接接頭采用雙壁雙影透照布置，當(dāng)同時(shí)滿足T（壁厚）≤8mm，g（焊縫寬度）≤Do/4時(shí)應(yīng)該用傾斜透照方式橢圓成像橢圓成像時(shí)，應(yīng)控制影像的開口寬度（上下焊縫投影zui大間距）在1倍焊縫寬度左右。不滿足T（壁厚）≤8mm，g（焊縫寬度）≤Do/4時(shí)或橢圓成像有困難時(shí)可采用垂直透照方式重疊成像。

NB/T47013-2015標(biāo)準(zhǔn)膠片透照技術(shù)2016/12/27: NB/T47013標(biāo)準(zhǔn)允許膠片透照技術(shù)：一、單膠片透照技術(shù)使用單張膠片。X射線（≤100KV）和Tm170射線源只允許采用單膠片透照技術(shù)。二、雙膠片透照技術(shù)使用兩張分類等級相同或相近的膠片。

在射線探傷中膠片的使用如何選擇2016/12/27: 射線探傷中膠片的選擇一、*和AB級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用C5類或更高類別的膠片，B級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用C4類或更高類別的膠片。二、采用γ射線和高能X射線進(jìn)行射線檢測時(shí)，以及對標(biāo)準(zhǔn)抗拉強(qiáng)度下線值Rm≥540MPa高強(qiáng)度材料射線檢測時(shí)，應(yīng)采用C4類或更高類別的膠片

超聲波探傷檢測應(yīng)用范圍2016/12/27: 超聲波探傷檢測應(yīng)用范圍一、能檢測出原材料（板材、復(fù)合材料、棺材、鍛件等）和零部件中存在的缺陷；二、能檢測出焊接接頭內(nèi)存在的缺陷，面狀缺陷檢測率較高；三、超聲波穿透能力強(qiáng)，可用于大厚度（100mm以上）原材料和焊接接頭的檢測；四、能確定缺陷的位置和相對尺寸。

LKTC-2002電腦膜層測厚儀2016/12/26: 一、儀器特點(diǎn)LKTC系列涂層測厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶，采用微機(jī)技術(shù)，精度高，數(shù)字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測量，體積小，重量輕，且具有存儲、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示等功能，其性能達(dá)到同類儀器的*水平。二、應(yīng)用范圍本儀器采用磁性測厚法，可以方便無損的測量鐵磁性材料上的非磁性材料涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。三、工作原理LKTC系列涂層測厚

華盛昌涂層測厚儀鐵鋁兩用漆膜油漆鍍層厚度測量儀DT-1562016/12/26: CEM華盛昌DT-156涂鍍層測厚儀,絕緣涂鍍層測厚儀,二合一測厚儀產(chǎn)品系列DT-156涂鍍層測厚儀探頭可以工作在電磁感應(yīng)和渦流兩種原理下。在自動模式（AUTO）下，兩種原理可視測量的基體自動轉(zhuǎn)換，或可通過菜單進(jìn)行自動模式和非自動模式轉(zhuǎn)換。特性1、可測量涂鍍層：①磁性物質(zhì)表面的非磁性涂鍍層厚度②非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度2、豐富的操作菜單3、連續(xù)和單次測量方式4、直接工作模式和組工作模式5、可統(tǒng)計(jì)并顯示：平均值、zui大值、zui小值、標(biāo)準(zhǔn)方差、統(tǒng)計(jì)數(shù)6、可進(jìn)行一點(diǎn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn)7、可保存400

手腕式超聲波測厚儀：LK3902016/12/26: 技術(shù)參數(shù)：測量范圍：0.65～500mm(鋼，取決于探頭)顯示精度：0.01mm探頭頻率：1MHz～10MHz顯示方式：帶背光的液晶顯示器校準(zhǔn)：對話式探頭，自動校準(zhǔn)聲速范圍：1250～10000m/s掃描方式：每秒測量16個(gè)點(diǎn)，可以捕捉到zui薄點(diǎn)電源：2節(jié)7號電池。連續(xù)使用時(shí)間達(dá)100小時(shí)，當(dāng)電池供電不足時(shí)，顯示器會閃爍報(bào)警，直至自動關(guān)機(jī)鍵盤：防水、防油鍵盤操作溫度：-30℃～50℃尺寸：65*98*25mm常用探頭選擇：型號頻率探頭晶片直徑測量范圍說明PT-085.0MHzΦ8mm1.0mm

超聲波測厚儀-LK5002016/12/26: LK500超聲波測厚儀高精度超聲波測厚儀金屬外殼產(chǎn)品介紹LK500型超聲波測厚儀是我公司嚴(yán)格按照DB37/T1846-2011測厚儀標(biāo)準(zhǔn)以及JJF1126-2004《超聲波測厚儀校準(zhǔn)規(guī)范》推出的、*元件組裝生產(chǎn)的小型數(shù)字化測厚儀，具有體積小、功耗低、穿透力強(qiáng)、抗摔打、抗振動、示值穩(wěn)定、檢測精度高(顯示精度±0.001英寸或±0.01mm)等優(yōu)點(diǎn),是無損檢測工作者理想的檢測工具。技術(shù)參數(shù)測量范圍：0.63～500mm(鋼，取決于探頭)顯示精度：0.01mm探頭頻率：1MHz～10MHz顯示方式：帶

電火花檢測儀也需要維護(hù)2016/12/17: 電火花檢測儀的維護(hù)1、操作人員應(yīng)熟悉本儀器的使用和說明書，嚴(yán)格按操作規(guī)范使用，注意保護(hù)儀器，防止摔、碰和高溫。請勿置于潮濕和腐蝕性氣體附近。2、檢測時(shí)要選擇適當(dāng)?shù)慕拥攸c(diǎn)，以保證檢測質(zhì)量。(1)對小體積金屬物體表面防腐層檢測，要求被檢測的物體用絕緣體支起20cm以上，然后將接地線良好地接在金屬物體上檢測。(2)對大體積或平面物體表面防腐層檢測，當(dāng)被測物體與大地有良好的接觸時(shí)，只需將接地線接入大地即可測試。3、檢測過程中，任何人不得接觸探極和被測物，以防麻電。4、被測防腐層表面應(yīng)保持干燥，若沾有導(dǎo)電

涂層測厚儀的正確使用方法2016/12/07: 涂層測厚儀的正確使用方法即使相同的涂層測厚儀，不同的人或?qū)Σ煌N類、狀態(tài)基材上的相同涂層測量出來的數(shù)據(jù)也可能會存在較大差別，這是因?yàn)闇y量人員因素、測量漆膜的基體材質(zhì)、厚度、表面狀況以及測量位置等造成的。使用涂層測厚儀，要注意以下幾點(diǎn)：使用前應(yīng)仔細(xì)閱讀儀器使用說明書不同廠家、不同品牌的儀器在結(jié)構(gòu)、按鍵、校準(zhǔn)等方面各不相同，因此使用前必須先仔細(xì)閱讀儀器的使用說明書，避免誤操作造成測量數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤。注意金屬基體材質(zhì)不同金屬基體材料的磁性、導(dǎo)電率是不相同的，這都會對測量結(jié)果造成影響[9]。采用磁性法測厚受

在操作X射線探傷機(jī)的時(shí)候安全很重要2016/12/06: X射線探傷機(jī)能夠運(yùn)用X射線來發(fā)現(xiàn)被檢查物質(zhì)的缺點(diǎn)，原理主要是依據(jù)物質(zhì)衰減性來判別，在整個(gè)檢查過程中能夠不損傷被檢查物，并且被檢查物無論是金屬仍是非金屬都能適用，現(xiàn)在這種探傷機(jī)運(yùn)用對比廣泛，運(yùn)用作用也*，每種事物都具有雙面性，探傷機(jī)也同樣，它在表現(xiàn)功效的一起，運(yùn)用安滿是對比敏感的疑問，X射線探傷機(jī)在運(yùn)用過程中危害人身體的疑問一直是很多人爭辯的焦點(diǎn)。探傷機(jī)在探傷運(yùn)用時(shí)局必會放射出X射線，只有切斷電源才干中止放射X射線。在X射線探傷機(jī)過程中必需求考慮到的是運(yùn)用者的安全防護(hù)，一般來說，防護(hù)主要會從時(shí)刻、

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