顆粒粒度指顆粒的大小。通常球體顆粒的粒度用直徑表示,立方體顆粒的粒度用邊長表示。對不規則的礦物顆粒,可將與礦物顆粒有相同行為的某一球體直徑作為該顆粒的等效直徑。有時候,在描述粉塵顆粒大小的時候也會用到。
利用梅特勒XP精密天平檢測顆粒粒度,需要配備篩分易巧稱量組件。梅特勒篩分易巧稱量組件,是將樣品篩固定在天平稱量臺上,以方便顆粒物稱量的輔件。用戶使用組件將樣品篩固定在天平稱量臺后,只需輕點觸摸屏上的One Click? ,即可啟用一鍵稱量篩分分析解決方案,根據屏幕提示步驟,樣品篩可逐步稱量。
梅特勒電子天平用于顆粒粒度檢測步驟如下:
1、一鍵啟動任務,固定樣品篩正確位置并自動稱量所有空篩。
2、篩分,篩分震動器對樣品篩進行篩分并完成樣品稱量。
3、回稱,系統提示下一步篩分并顯示每個樣品篩的質量。
4、結果,顯示顆粒粒度分布百分比。
5、記錄存檔,存儲數據,可隨時打印符合GLP結果報告。
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