微區(qū)掃描系統(tǒng)為局部表面科學(xué)研究提供了新途徑
SVET工作原理
掃描振動參比電極系統(tǒng)是利用振動電極和鎖相放大器消除微區(qū)掃描中的噪聲干擾,提高測量精度. SVET系統(tǒng)具有高靈敏度,非破壞性,可進(jìn)行電化學(xué)活性測量的特點(diǎn).它可進(jìn)行線性或面掃描,研究局部腐蝕(如電蝕和應(yīng)力腐蝕的產(chǎn)生,發(fā)展等),表面涂層及緩蝕劑的評價等方面的研究,掃描振動探針(SVET)是在液態(tài)腐蝕環(huán)境下,進(jìn)行腐蝕研究的有力工具,它能檢測小于5uA/cm2的原位腐蝕。
SKP工作原理
SKP掃描開爾文探針系統(tǒng)為表面科學(xué)測量提供了一個新的途徑,開爾文探針是一種無接觸,無破壞性的儀器,可以用于測量導(dǎo)電的、半導(dǎo)電的,或涂覆的材料與試樣探針之間的功函差。 這種技術(shù)是用一個振動電容探針來工作的,通過調(diào)節(jié)一個外加的前級電壓可以測量出樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。 功函和表面狀況有直接關(guān)系的理論的完善使SKP成為一種很有價值的儀器,它能在潮濕甚至氣態(tài)環(huán)境中進(jìn)行測量的能力使原先不可能的研究變?yōu)楝F(xiàn)實。
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