硅含量分析儀原理:
單波長色散X熒光法(MWD XRF)采用*的聚焦方法和單色光譜來增加X光的激發強度,比較傳統波長色散X熒光法(WD XRF),有效的提高了大功率背景下的信號強度。這明顯的提高了檢測限和精度,并降低了對基體效應的敏感度。一個單色聚焦的初級光線激發到樣品上,并從樣品中釋放出次級特征X熒光。次級單色光選擇硫元素X射線并引導這些X光到檢測器中。MWD XRF是一種直接技術,不需要任何載氣和氣體轉換。 效應的敏感度。一個單色聚焦的初級光線激發到樣品上,并從樣品釋放出次級特征X熒光。基于MWD XRF 單波長色散X熒光技術,Signal硅含量分析儀的zui低檢測下限(LOD)可到達0.5 ppm,同時檢測上限達到 3000ppm, 這種直接的測量方法不需要樣品的轉化和不需要高溫操作。小巧、方便,被設計用于檢測液體、固體中的超低總硅含量。專門檢測汽油、柴油硅含量測定。
硅含量分析儀應用領域
分析碳氫化合物和生物燃料中的硅含量。
用于煉油廠實驗室,輸油管道中心,添加劑工廠,第三方檢測中心。
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