1976年J . Swit henbank 等人利用米氏理論在時( d為散射粒子的直徑,λ為光波波長)的近似式 ——夫瑯和費(Franhofer)衍射理論發展了激光粒度儀,開辟了散射理論在計量測試中的又一新領域。由于光散射法適用范圍寬,測量時不受顆粒光學特性及電學特性參數的影響,因此在隨后的三十年時間內已成為粒度計量中zui為重要的方式之一。
激光粒度儀的工作原理
當光線通過不均勻介質時,會發生偏離其直線傳播方向的散射現象,它是由吸收、反射、折射、透射和衍射的共同作用引起的。散射光形式中包含有散射體大小、形狀、結構以及成分、組成和濃度等信息。因此,利用光散射技術可以測量顆粒群的濃度分布與折射率大小,還可以測量顆粒群的尺寸分布。
由激光器(一般為He-Ne激光器或半導體激光器)發出的光束。經空間濾波器和擴束透鏡后,得到了一個平行單色光束,該光束照射到由分散系統傳輸過來的顆粒樣品后發生散射現象。研究表明,散射光的角度和顆粒直徑成反比,散射光強隨角度的增加呈對數衰減。這些散射光經傅立葉透鏡后成像在排列有多環光電探測器的焦平面上。多環探測器上的中央探測器用來測定樣品的體積濃度,外圍探測器用來接收散射光的能量并轉換成電信號,而散射光的能量分布與顆粒粒度分布直接相關。通過接收和測量散射光的能量分布就可以反演得出顆粒的粒度分布特征。
激光粒度儀集成了激光技術、現代光電技術、電子技術、精密機械和計算機技術,具有測量速度快、動態范圍大、操作簡便、重復性好等優點,現已成為*zui流行的粒度測試儀器。
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