膜厚計的工作原理及選擇方法

膜厚鍍層的測量勉強可以稱為長度量測的一種,但實際上它的工作原理和測量方法與一般的長度測量是不一樣的。

目前膜厚計http://www.js967.com/st101244/Product_16791176.html測的要求有日漸增多的趨勢,這是由于涂膜已不再只是美化材料表

面或防腐的功能而已,一些新的電器、電子 產品,都是利用涂膜的工件來擔任一些重大的工作,因此膜厚的計測非常值得我們重視。

膜厚計可分為破壞式及非破壞式兩種。依其針對的測量對象不同而有所區別。一般而言,膜厚測量有以下幾種場合:

1.底材為磁性金屬,而涂膜為非磁性金屬:例如鋼板在加工工廠加工、割切、 焊接時,須噴涂一層底漆(Shop PAINTING)。而此層涂漆如果太厚,非但耗費 漆材,而且嚴重防礙割切,焊接等工作的進行,但如果噴涂太薄,又容易導致鋼 板生銹,以致影響施工品質。

2.底材為非磁性金屬涂膜亦為非磁性金屬:例如照相用底片為塑料材料,而其感光膜亦為非金屬材料。(例如鹵化銀),測量膜厚主要是作為底片生產品質的控制,膜厚直接影響底片沖洗的時間及影像的清晰度。

3.底材為磁性金屬而涂膜亦為磁性金屬:例如電鍍即是,鍍膜膜厚通常與電鍍時間有關,而鍍膜是否均勻則依賴生產技術的改良,這時候便須有良好的膜厚計來加以檢驗了。

4.底材為非磁性金屬而涂膜為磁性金屬:噴敷技術或電鍍時先將底材表面金屬化,或是蒸鍍 ,都可達成此一任務,產品的例子如全反射面鏡,抗反射玻璃等等。有時因品質要求嚴格,其膜厚精度甚至控制在數 n m 左右。

現介紹各種不同的膜厚計測儀器如下:

1.破壞式膜厚計:利用鉆石刀將底材連同膜厚截斷,然后將斷面置于光學顥微鏡檢查,其斷面斜度有30度斜角,60度斜角及45度斜角的分別，亦有采用90度切斷檢查者。

2.光學橢圓儀:其原理是利用分光的技術,由于不同材料有不同折射率的特性 ,因此求得膜厚,其儀點為精度高,不論膜厚薄至數 n m ,也可以量取,但是缺點是價格較貴。  

3.電磁性膜厚計:可分數顯式及指針式專門量測第1種及 第2種場合的涂膜厚度,利用電磁感應的原理,當涂層越厚時,其電磁感應力越小。兩者形成線性關系,由此可得膜厚之值,在使用時須注意校正工作,不同的底材,有不同的校正值,因此必須使用標準試片來歸零。

  第1種場合可測物品:

                  1.鍍金、銅、鋅、錫、鉛、鉻等。

                  2.薄層涂料、金屬涂層、樹脂涂層。

                  3.樹脂、橡皮、玻璃線條(外形)。

                  4.磷酸防蝕、金屬噴敷法。

                  5.薄膜、金屬、樹脂、橡皮、紙或其它非磁性材料。

  第2種場合可測物品:

                  1.薄層涂料(漆、橡皮等樹脂合成或涂料)。

                  2.樹脂、橡皮、玻璃線條(或外形)。

                  3.氧化物薄膜與其它特別的薄膜。

                  4.橡皮，樹脂合成薄膜在銅、黃銅、鋁的板上。