往返時(shí)間的測量有以下三種方法:
(1)測量發(fā)射波T與*次底波B1之間的時(shí)間;
(2)測量*次底波B1與第二次底波B2之間的時(shí)間;
(3)測量其后任意兩相鄰波之間的時(shí)間。
以上三種測量方式的選擇可以通過不同的電路來實(shí)現(xiàn),但它們對儀器的性能有很大的影響。如果選擇*種測量方法,則因發(fā)射脈沖幅度特別大,且種測量方法,由于脈寬窄,能探測薄的材料,此時(shí)若用高頻探頭(10MHz),就能探測更薄的材料,因而拓寬了儀器測量下限。如果選擇第三種測量方法,效果和第二種不相上下,但數(shù)據(jù)采集較困難,且雜波較多。第二和第三種測量方法的測量電路較復(fù)雜,成本較高。我們在研制過程中,考慮到量程要求,采用了第二種測量方法。為了方便實(shí)現(xiàn)電路,我們在發(fā)射超聲波的同時(shí)設(shè)計(jì)了一個(gè)計(jì)數(shù)門,由門脈沖控制計(jì)數(shù)的起始位置。
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