紅外熱像儀E40利用光學(xué)成像鏡頭、紅外探測(cè)器接受被測(cè)目標(biāo)的紅外輻射能量，并將紅外輻射能量轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)視頻信號(hào)，通過顯視屏顯示紅外熱像圖。這種熱像圖與物體表面的熱分布場(chǎng)相對(duì)應(yīng)，是被測(cè)目標(biāo)物體各部分紅外輻射的熱像分布圖。紅外熱像儀E系列能夠?qū)⑻綔y(cè)到的熱量量化，能夠?qū)Πl(fā)熱的故障區(qū)域進(jìn)行準(zhǔn)確識(shí)別和嚴(yán)格分析，因此，紅外熱像儀能夠非接觸準(zhǔn)確測(cè)溫，并能夠?qū)崟r(shí)顯示熱場(chǎng)分布的特點(diǎn)使得其成為電路板檢測(cè)等無(wú)損探傷的*工具。

隨著電路板制造工藝的發(fā)展，其上電子元器件的集成度是越來越高，電路越來越復(fù)雜，出現(xiàn)故障后傳統(tǒng)的接觸式診斷需要大量的時(shí)間和精力，因此非接觸式的故障診斷方法已經(jīng)成為目前的迫切需要。

常見的電路板故障一般為短路、斷路或者接觸不良。短路時(shí)電路板電流較正常情況下大，因此對(duì)應(yīng)元件有溫升，其紅外熱像圖較正常情況下有明顯異常;斷路或者接觸不良時(shí)，通過元件的電流值幾乎為零，此時(shí)，對(duì)應(yīng)元件的溫度較正常工作時(shí)低，也能夠明顯的顯示在熱像圖中。因此，可根據(jù)以上原理非常方便的判斷出電路板的故障點(diǎn)。

深圳銓博科技針對(duì)于電子行業(yè)的電路板檢測(cè)專門推出了便攜式電路板檢測(cè)型紅外熱像儀E40;此熱像儀可適用于電路元件器件溫度分析、整個(gè)電路場(chǎng)溫度分布分析等。

電路板檢測(cè)型紅外熱像儀主要具有如下幾個(gè)特點(diǎn)：

采用進(jìn)口384×288非制冷焦平面探測(cè)器，配合公司*的圖像處理算法，能夠輸出圖像質(zhì)量*的紅外熱像圖并且測(cè)溫的靈敏度高（<0.06°C）。

軟件功能強(qiáng)大，能夠直觀、實(shí)時(shí)得到被測(cè)對(duì)象的溫度分布、曲線、數(shù)據(jù)等并能夠保存和回放帶溫度的圖像及視頻流。

溫形式多樣，能夠進(jìn)行zui高溫、zui低溫追蹤，能夠進(jìn)行點(diǎn)測(cè)溫、線測(cè)溫、區(qū)域測(cè)溫，并可設(shè)置閾值報(bào)警，能夠進(jìn)行等溫顯示。

數(shù)據(jù)保存類型多樣，包括csv、bmp、avi、txt、word及一些自定義格式的文件保存方式供工程師分析使用。

百兆以太網(wǎng)傳輸高幀頻（50Hz）的純溫度數(shù)據(jù)。

配備一整套完整的檢測(cè)平臺(tái)，可調(diào)節(jié)高度的升降臺(tái)能夠?qū)崿F(xiàn)觀測(cè)距離和觀測(cè)范圍的自由調(diào)整，方便工程師操作使用。

選配微距鏡頭，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)微米級(jí)、芯片級(jí)目標(biāo)物體的觀測(cè)與分析，zui小可觀測(cè)25微米對(duì)象。

 標(biāo)準(zhǔn)鏡頭觀測(cè)電路板熱像圖

微距鏡頭觀測(cè)電路板熱像圖

 點(diǎn)、線、區(qū)域、等溫測(cè)溫顯示

應(yīng)用案例：