在選擇TEKHNE露點儀時,TK-100和TE-660是兩個核心系列,分別針對不同的工業測量需求。以下是兩者的關鍵對比及選型建議:
1. 核心差異概覽
對比維度 | TK-100系列 | TE-660系列 |
---|---|---|
測量范圍 | -100°C ~ +20°C dp | -60°C ~ +20°C dp |
傳感器技術 | 陶瓷傳感器(xin技術) | 聚合物薄膜傳感器 |
核心優勢 | 超低露點測量(<-50°Cdp) | 快速響應、一體化設計 |
典型型號 | TK-100 NK-I(帶干燥室) | TE-660 NE(內置采樣系統) |
適用場景 | 半導體、空分裝置、超高純氣體 | 壓縮空氣、SF6檢測、工業流程監測 |
2. 詳細技術對比
(1) 測量范圍與精度
TK-100:
覆蓋-100°Cdp的干燥環境,適合超高純氣體(如半導體制造用氮氣)。
精度±2°Cdp,但在-50°Cdp以下表現更穩定(干燥室系統提升響應速度)。
TE-660:
下限為-60°Cdp,適合常規工業氣體(如壓縮空氣、SF6)。
相同精度(±2°Cdp),但在-20°Cdp以上響應更快(聚合物傳感器特性)。
(2) 傳感器與響應速度
TK-100:
陶瓷傳感器耐長期漂移(<0.5°Cdp/年),但初始響應較慢(需干燥室預熱)。
TE-660:
聚合物傳感器在15秒內可響應露點變化,適合快速巡檢。
(3) 設計與便攜性
TK-100 NK-I型:
超輕(0.8kg),AA電池供電(15小時續航),適合野外或無電源環境。
TE-660 NE型:
內置過濾器、流量計,無需外接預處理,但重量稍大(3.5kg)。
(4) 擴展功能
TE-660支持4-20mA/Modbus輸出,可集成到控制系統;TK-100專注便攜測量,無信號輸出功能。
3. 選型建議
選擇TK-100系列若:
需要測量-80°Cdp以下的超低露點(如半導體光刻氣體)。
長期穩定性優先(如空分裝置連續監測)。
場景需防爆(可選TK-100TR-EX型號)。
選擇TE-660系列若:
測量-60°Cdp以上(如壓縮空氣、塑料干燥機)。
要求快速響應(如SF6開關水分檢測)。
需要一體化設計,減少外接配件。
經濟性考量
TK-100初始成本較高,但維護簡單(年換干燥劑);
TE-660需定期更換過濾器(每6個月),但操作更便捷。
4. 總結
干燥選TK-100,常規工業選TE-660。
若預算有限且無需超低露點,TE-660HD分體式型號更經濟。
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