型號及介紹

1. 185LE

• 用途：主要用于晶圓、鏡頭、玻璃基板等表面的目視檢查，廣泛應用于TFT面板、彩色濾光片（CF）、觸摸屏制造等行業。
• 核心功能：
• 高照度：在照射距離310mm、照射直徑55mm時，照度可達400,000 Lux以上。
• 光源：直流點燈17V/185W鹵素燈。
• 照度調整：照度可連續調節至最大照度的20%。
• 冷卻方式：強制空冷。
• 使用溫度范圍：0～40℃。
• 電源電壓：AC 95V～AC 260V, 50/60Hz。
• 功率：250W。
• 尺寸：光源136mm H×112mm W×150mm D，電源229mm H×90mm W×250mm D。
• 重量：光源2.3kg，電源3.6kg。

2. 185LE-AL

• 用途：與185LE類似，主要用于晶圓、鏡頭、玻璃基板等表面的目視檢查，適合TFT面板、彩色濾光片、觸摸屏制造等行業。
• 核心功能：
• 高照度：在照射距離310mm、照射直徑55mm時，照度可達400,000 Lux以上。
• 光源：直流點燈17V/185W鹵素燈。
• 照度調整：照度可連續調節至最大照度的20%。
• 冷卻方式：強制空冷。
• 使用溫度范圍：0～40℃。
• 電源電壓：AC 95V～AC 260V, 50/60Hz。
• 功率：200W。
• 尺寸：光源136mm H×112mm W×150mm D，電源229mm H×90mm W×250mm D。
• 重量：光源1.2kg，電源3.6kg。

3. 185FI

• 用途：適用于需要高照度和特定光譜特性檢測的場景，如高反射材料、透明材料的檢測。
• 核心功能：
• 高照度：提供高亮度照明，滿足精密檢測需求。
• 光源：17V/185W鹵素燈。
• 照度調整：支持無級調光。
• 冷卻方式：強制空冷。
• 使用溫度范圍：0～40℃。

4. 370TFI/R

• 用途：適用于大面積檢測，如大型玻璃基板、TFT面板等。
• 核心功能：
• 高照度：提供高亮度照明。
• 光源：鹵素燈。
• 照度調整：支持無級調光。
• 冷卻方式：強制空冷。
• 使用溫度范圍：0～40℃。

5. 100LE

• 用途：適用于小型檢測場景，如小尺寸晶圓、小型光學元件等。
• 核心功能：
• 光源：鹵素燈。
• 照度調整：支持無級調光。
• 冷卻方式：強制空冷。
• 使用溫度范圍：0～40℃。

應用場景

• 半導體晶圓檢測：用于檢測晶圓表面的微小缺陷，如劃痕、微粒、涂層不均等。
• 液晶面板檢測：用于檢測TFT面板、彩色濾光片、觸摸屏等的表面雜質與微裂紋。
• 玻璃基板檢測：用于檢測玻璃基板表面的雜質、微裂紋等。
• 材料分析：用于檢測金屬涂層均勻性、塑料部件注塑缺陷等。