直讀光譜儀與XRF區別

來源：廣州儀德精密科學儀器股份有限公司 2025年07月14日 17:40

在金屬成分分析領域中，直讀光譜儀（OES）和X射線熒光光譜儀（XRF）是最常見的兩大檢測技術。它們常被用于金屬冶煉、鑄造、加工、回收等行業的元素成分檢測。但很多客戶在選購時容易混淆兩者：功能上差別大嗎？誰更精準？適合我這個行業用哪種？

一、基本定義與原理

? 直讀光譜儀（OES）：
通過高頻火花或電弧將金屬樣品激發成等離子態，發射出光譜線，通過光譜強度判斷元素含量。

? X射線熒光光譜儀（XRF）：
使用X射線激發樣品釋放出熒光，分析其能量來識別元素，操作便捷、非破壞。

? 如您需要檢測輕元素（如C、S、P）、成分控制嚴格，推薦使用：
斯派克MAXx直讀光譜儀，適用于鋁加工廠、鋼鐵廠、鑄造廠等對成分有精度要求的行業。

? 如您主要進行金屬快速篩選、材料分選、材質判定，推薦使用：
斯派克手持XRF光譜儀，適用于回收站、金屬貿易、管道PMI檢測等現場應用。

很多客戶會同時配備直讀光譜儀和XRF：
- 用XRF進行快速分選或初步識別；
- 用OES做精密成分分析與最終確認。
這種搭配在鋁加工廠、鋼鐵企業和合金行業中非常常見。

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