老化測(cè)試高溫試驗(yàn)箱詳解
老化測(cè)試高溫試驗(yàn)箱(Aging Test Chamber或High Temperature Test Chamber)是一種用于模擬高溫環(huán)境,測(cè)試材料、電子元器件、PCB、汽車部件等產(chǎn)品在長(zhǎng)期高溫條件下的可靠性、耐久性及性能變化的專業(yè)設(shè)備。廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天、化工、光伏等行業(yè)。
一、老化測(cè)試高溫試驗(yàn)箱的核心功能
1. 主要測(cè)試目的
測(cè)試目標(biāo) | 應(yīng)用場(chǎng)景 |
---|---|
高溫老化壽命評(píng)估 | |
材料熱穩(wěn)定性測(cè)試 | |
加速老化試驗(yàn) | |
環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS) |
2. 關(guān)鍵性能參數(shù)
參數(shù) | 典型范圍 | 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)參考 |
---|---|---|
二、設(shè)備結(jié)構(gòu)與工作原理
1. 核心組成部分
模塊 | 功能說(shuō)明 |
---|---|
加熱系統(tǒng) | |
風(fēng)道設(shè)計(jì) | |
控制系統(tǒng) | |
安全保護(hù) | |
觀測(cè)窗口 |
2. 工作流程示例(以PCB老化測(cè)試為例)
樣品裝載
將PCB板置于試驗(yàn)箱擱板上,避免遮擋風(fēng)道。 參數(shù)設(shè)置
輸入溫度曲線(如125℃±2℃,持續(xù)96小時(shí))。 啟動(dòng)測(cè)試
設(shè)備自動(dòng)升溫并保持恒溫,記錄實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)。 結(jié)果分析
測(cè)試后檢查PCB的焊點(diǎn)可靠性、元件參數(shù)漂移等。
三、行業(yè)應(yīng)用案例
1. 電子元器件老化測(cè)試
測(cè)試條件
125℃/1000小時(shí)(模擬10年使用壽命)。 判定標(biāo)準(zhǔn)
失效比例<1%(如AEC-Q200 Grade 1認(rèn)證要求)。
2. 汽車部件耐高溫測(cè)試
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
ISO 16750-4(85℃/85%RH + 循環(huán)溫度沖擊)。 案例
電動(dòng)汽車電池模塊在高溫下的絕緣性能測(cè)試。
3. 光伏組件老化試驗(yàn)
測(cè)試要求
IEC 61215(85℃濕熱老化+UV輻照,模擬25年戶外老化)。
四、選型與使用注意事項(xiàng)
1. 選型關(guān)鍵因素
需求 | 推薦配置 |
---|---|
2. 維護(hù)與校準(zhǔn)
日常維護(hù)
定期清潔內(nèi)箱灰塵,檢查加熱器電阻值。 校準(zhǔn)要求
每年需第三方校準(zhǔn)(如CNAS認(rèn)證機(jī)構(gòu)),確保溫度精度符合JJF 1101-2019。
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