QNix 4500 涂層測(cè)厚儀

（一）性能優(yōu)勢(shì)

先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)融合：除了具備 QNix 4200 的諸多優(yōu)點(diǎn)外，QNix 4500 采用的直流采樣技術(shù)，使測(cè)量重復(fù)性得到極大提升。相比傳統(tǒng)交流技術(shù)，其測(cè)量數(shù)據(jù)更加穩(wěn)定、可靠，有效減少了因測(cè)量誤差導(dǎo)致的產(chǎn)品質(zhì)量問題。

溫度補(bǔ)償更精準(zhǔn)：涂覆層厚度測(cè)量受溫度影響大，QNix 4500 擁有更理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，即使在溫度變化較大的環(huán)境中，也能保證測(cè)量精度不受影響。這一特性使其在戶外施工、高溫車間等復(fù)雜溫度環(huán)境下的測(cè)量工作中表現(xiàn)。

耐用的紅寶石探頭：探頭接觸點(diǎn)采用紅寶石材質(zhì)，極大提高了探頭的耐磨性。普通金屬接觸探頭在頻繁使用后易因表面磨損產(chǎn)生測(cè)量誤差，而紅寶石探頭的應(yīng)用確保了長(zhǎng)期測(cè)量過程中的高精度，降低了因探頭磨損而需要更換或校準(zhǔn)的頻率，節(jié)約了使用成本。

（二）適用場(chǎng)景

廣泛應(yīng)用于航空航天領(lǐng)域，對(duì)金屬零部件表面的特殊涂層厚度進(jìn)行精確測(cè)量，保障飛行器的安全性能；在電子設(shè)備制造中，測(cè)量鋁、銅等非磁性金屬基體上絕緣涂鍍層的厚度，滿足電子元器件對(duì)于涂層厚度高精度控制的要求。