AE-365E高精確度電阻計AEMIC株式會社

AE-365E高精確度電阻計AEMIC株式會社

 AE-365E 超高速?高精確度?120Hz/1kHz數(shù)位容量量測器

 晶片、簿膜式、直立式、軸向式電容器自動捆包機(jī)

超高速：1msec.【TYP】（測量中時間）

以2pF / 20pF量程５Ｖ 測定達(dá)到大幅提升微小容量的安定度

透過測量值異常檢知方式可于２點(diǎn)端子（４點(diǎn)端子）測量時檢出測量測針接觸不良情況

４點(diǎn)端子接觸檢測：可選擇測定后/OFF

測量頻率：1kHz / 120Hz ±0.1% (正弦波)

可切換串聯(lián)等效電路、并列等效電路

定電壓測量（無法對應(yīng)部分量程）

可測量tanδ（無法對應(yīng)2pF量測）

３1/2位數(shù)(1999)數(shù)位顯示、內(nèi)建比較器功能可HI / GO / LO輸出

RS-232C介面、印表機(jī)輸出標(biāo)準(zhǔn)配備（符合Centronics）（GP-IB為選購）

間歇性供給測量電流以減輕量測探針接觸之耗損[120µF/1.2mF量程]

即使于檢測中亦可輸出設(shè)定值、統(tǒng)計值、日期、時間至列表機(jī)

測量范圍及基本精確度（D＜0.1 周圍溫度23℃±5℃）

檔位測量范圍最小解析度精確度測量電壓

2pF 0.000pF～1.999pF 0.001pF 讀數(shù)±5位×α的±1.0%以內(nèi) 1kHz,1V±5％[有效值] 1kHz,5V±5V％[有效值] 

20pF 0.00pF～19.99pF 0.01pF 讀數(shù)±3位×α的±0.25%以內(nèi) 

200pF 0.0pF～199.9pF 0.1pF 讀數(shù)的±0.2%±2位×α以內(nèi) – 

2nF 0.000nF～1.999nF 0.001nF 讀數(shù)的±0.2%±2位以內(nèi) – 

20nF 0.00nF～19.99nF 0.01nF – 

200nF 0.0nF～199.9nF 0.1nF – 

2μF 0.000μF～1.999μF 0.001μF 120Hz、0.5V±5％[有效值] 

20μF 0.00μF～19.99μF 0.01μF 讀數(shù)±0.3%±3位×α以內(nèi) 

120μF 0.0μF～119.9μF 0.1μF 讀數(shù)±5位×α的±1.0%以內(nèi) 1kHz,1V+5％～-15％[有效值] – 

200μF 0.0μF～199.9μF 0.1μF 讀數(shù)±0.5%±3位×α以內(nèi) – 120Hz、0.5V±5％[有效值] 

1.2mF 0.000mF～1.199mF 0.001微法 讀數(shù)±5位×α的±1.5%以內(nèi) – 120Hz、0.5V+5％～5％～-25％[有效值] 

※0.1＜D＜1的情況時、25D/100(%)則需加算上記精確度。 α：FAST時2(2pF量程/1 V 時α=10) SLOW時1(2pF量程/1 V 時α=5)

測量方式3/5點(diǎn)端子測量方式[可選擇不同量程] 

測量頻率120Hz/1kHz±0.1%、正弦波 

測量訊號輸出抵抗約1Ω 

雑散電容修正范圍約30pF 

滿刻度及零度系數(shù)±100ppm/℃以下 

測量時間【內(nèi)部觸發(fā)】FAST：約1～5回/秒SLOW：FAST×N(N:平均值設(shè)定回數(shù))

【測量中訊號[FAST]】1msec.[最速時] 

比較器設(shè)定范圍Capacitance：HI/LO和1999[120µF/1.2mF 檔位HI/LO與1１99] tanδ：99.9% 

使用周圍環(huán)境溫度：0℃～+50℃、 濕度：85%以下 

所需電源AC85V～265V、50～60Hz、約50VA 

外形尺寸333(W)×99(H)×300(D)mm（不含底部橡膠部分。） 

重量約4公斤 

AE-365E本體[RS-232C標(biāo)準(zhǔn)配備] 

GP-IB 選購[若選購GP-IB則無法搭配RS-232C] 

※型錄的規(guī)格會因機(jī)臺改良而隨時變更。