AEC-Q100 標準3：由汽車電子委員會（AEC）制定，是車用 IC 芯片的綜合可靠性測試認證標準。其中包含針對高溫工作壽命（HTOL）測試，通常要求在 125℃環(huán)境下持續(xù) 1000 小時，用于評估芯片在高溫長期工作條件下的可靠性。

GB/T 2423 系列標準4：是國內(nèi)系統(tǒng)的環(huán)境試驗方法標準，用于評估電工電子產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下的性能和可靠性，包含溫度試驗、濕度試驗等內(nèi)容。其中 GB/T 2423.2-2008 規(guī)定了高溫試驗方法，包括非散熱樣品（恒定高溫）與散熱樣品（溫度漸變）的測試流程，溫度梯度≤3℃/min。

ISO 16750-4 標準4：是國際標準化組織（ISO）發(fā)布的關于汽車電子設備的環(huán)境測試標準，包含冷熱沖擊測試要求，規(guī)定了汽車電子設備必須承受的高低溫交替環(huán)境條件，確保其在長期使用過程中不發(fā)生性能退化或功能故障。

IEC 60068-2-14 標準4：由國際電工委員會（IEC）發(fā)布，適用于汽車及其他領域的電子元件，定義了冷熱沖擊測試的溫度范圍、測試周期和方法，廣泛應用于汽車電子設備和組件的可靠性測試。

SAE J1211 標準4：由美國汽車工程師協(xié)會（SAE）制定，專門用于汽車溫度循環(huán)測試，提供了用于評估汽車零部件在快速溫度變化下表現(xiàn)的測試方法，適用于塑料、橡膠、電氣部件等材料。

GMW 3172 標準4：是通用汽車公司（GM）制定的標準，適用于汽車零部件的溫度和濕度循環(huán)測試，規(guī)定了汽車組件需要經(jīng)過的冷熱沖擊環(huán)境，并描述了測試過程中所需的溫度范圍、時間和條件。